판매용 중고 HITACHI S-8840 #9077722

HITACHI S-8840 은 SEM (Scanning Electron Microscope) 인데, 이를 통해 매크로 및 마이크로 레벨 모두에서 물체를 보고 분석 할 수 있습니다. 세포 및 조직 형태 검사, 반도체 물질 성장, 표면의 결함 관찰, 결정 구조 분석 등 다양한 과학적 조사에 사용되는 강력하고 고급 기구 (FA) 입니다. HITACHI S8840은 단색 전자 광학 장비, 에너지 분산 X- 선 (EDX) 시스템, BSE (back-scattered electron) 검출기 및 정량적 분석을위한 결정 단위를 포함하여 몇 가지 정교한 구성 요소로 구성됩니다. 단색 전자-광학 기계 (Monochromatic electron-optical machine) 는 고급 전자 광학 및 전자 총 기술로 인해 고도의 해상도와 영상 속도를 낼 수 있습니다. EDX 도구를 사용하면 넓은 감지 범위에서 샘플을 원소 분석할 수 있습니다. BSE 탐지기 (BSE detector) 는 다양한 배율을 포함하는 표면 이미지를 얻기 위해 사용되며, 샘플의 복잡한 특징과 질감을 보여줍니다. 마지막으로, 결정질 자산 (crystalline asset) 은 샘플의 회절각을 측정하여 알려진 결정 구조의 성공적인 식별을 가능하게한다. S 8840에는 1 메가 픽셀 해상도로 이미징 데이터를 제공 할 수있는 디지털 메가 뷰어 (digital megaviewer) 이미징 검출기가 장착되어 있으며, 기존의 SEM보다 훨씬 정밀하게 결정 구조 식별 및 고해상도 이미징이 가능합니다. S8840은 또한 저에너지 2 차 전자를 포획하여 높은 배율로 저배율 이미지를 생성 할 수있는 고감도 2 차 전자 검출기를 자랑합니다. S-8840 은 이미지 처리 (image-processing) 기능을 통해 이미지 처리 결과를 손쉽게 최적화하고 분석 시간을 단축할 수 있습니다. 결론적으로, HITACHI S 8840은 첨단 스캐닝 전자 현미경으로, 표면 및 원소 분석에서 결정 구조 식별에 이르기까지 과학적 연구 노력에 대한 전례없는 수준의 디테일과 정확성을 제공합니다. 강력한 기능과 구성 요소를 통해 다양한 기술 어플리케이션 (technical application) 에 유용한 툴이 됩니다.