판매용 중고 HITACHI S-8820S #293758897

HITACHI S-8820S
ID: 293758897
Crititcal Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM).
HITACHI S-8820S 주사 전자 현미경 (SEM) 은 재료 과학, 생명 과학 및 기타 연구 분야에 사용되는 고해상도 이미징 장치입니다. 분석 전자 빔을 사용하여, 0.3 nm 정도의 작은 샘플의 정확한 영상을 허용합니다. HITACHI S-8820 S는 두 가지 다른 모드 (고해상도 이미징 모드 및 분석 모드) 로 작동 할 수 있습니다. 고해상도 이미징 모드에서 S 8820 S는 0.3nm 미만, 0.8nm 해상도 (최대 100,000X) 의 샘플을 감지 할 수 있습니다. 분석 모드에서 S-8820S는 샘플의 화학 분석에 사용됩니다. 최대 30 keV의 가변 빔 에너지를 가지며, 원소 감지 제한은 0.1% 입니다. HITACHI S 8820 S 는 다양한 기능을 갖추고 있어 샘플의 정확하고, 반복 가능하며, 안정적인 이미징 및 분석을 보장합니다. 이러한 기능에는 가변 빔 밝기 (variable beam brightness) 가 포함되며, 이는 표본의 요구사항과 원하는 해상도에 맞게 조정될 수 있습니다. 이 현미경 은 또한 "빔 '을 자동 조화 할 수 있어서," 빔' 을 최적 직경 으로 조정 할 수 있다. 분석 빔 전류 (analytical beam current) 와 가속 전압 (accelerating voltage) 을 정확하게 제어하여 해상도가 높은 이미지와 정확한 데이터를 제공 할 수 있습니다. S-8820 S에는 이미징 및 분석 능력을 향상시키기 위해 다양한 액세서리가 있습니다. 이러한 액세서리 중에는 터보-분자 펌프, 샘플 히터 컨트롤, 마이크로-프로브 및 가스 분사 시스템이있는 진공 시스템이 있습니다. 또한, HITACHI S-8820S에는 샘플의 요소를 식별하도록 설계된 에너지 분산 X- 선 분광이 장착 될 수 있습니다. 결론적으로, HITACHI S-8820 S는 0.3 nm 크기의 치수를 갖는 표본의 고해상도 영상 및 화학 분석이 가능한 고급 스캐닝 전자 현미경입니다. 가변 빔 에너지 (최대 30 keV) 와 가변 빔 밝기 (가변 빔 밝기) 는 정확하고 반복 가능한 결과를 제공합니다. 또한, 진공 시스템 및 샘플 히터 제어 (Sample Heater Control) 와 같은 다양한 액세서리는 S 8820 S에 대한 추가 기능을 제공합니다. 다양한 기능과 기능을 갖춘 S-8820S는 재료 과학 및 생명 과학 연구에서 강력한 도구입니다.
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