판매용 중고 HITACHI S-8820 #9389824

HITACHI S-8820 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 다양한 재료에 대한 높은 정확성과 고속 분석을 위한 강력한 도구를 제공하는 고해상도 이미징 및 분석 장비입니다. 고해상도와 저전압 HITACHI S 8820 (HITACHI S 8820) 은 기존 표본과 비전도 표본을 모두 분석하는 데 적합합니다. 빠른 스캐닝 (Scanning), 이미지 스토리지 (Image Storage) 및 대용량 챔버 (Chamber) 크기의 S-8820은 다양한 응용 분야에서 다양한 작업을 수행하는 데 사용할 수 있는 매우 다양한 시스템입니다. S 8820 은 대형 챔버 (chamber) 와 높은 정전기 렌즈 장치 (electrostatic lens unit) 의 조합을 활용하여 매우 높은 해상도의 이미징 및 분석을 달성합니다. 거대 한 "챔버 '는 광시야 를 제공 하고, 고해상도 정전기" 렌즈' 기계 는 세부점 의 정확 한 확대 와 영상 을 보장 해 준다. HITACHI S-8820 (HITACHI S-8820) 의 고해상도 기능은 스캐닝 빔 디플렉터 (scanning beam deflector) 에 의해 제공되며, 이를 통해 SEM은 기존의 광원 현미경으로 관찰하기 어려운 세부 사항을 감지 할 수 있습니다. HITACHI S 8820 은 또한 자동화된 샘플 피더를 제공하여 수작업 없이 여러 개의 표본을 신속하게 스캔할 수 있습니다. 급지대는 저전압 자동 스캔 도구를 사용하여 표본의 빠른 분석을 허용합니다. 표본이 샘플 급지대에 로드되고 자동 스캔 에셋이 활성화됩니다. 그런 다음, 모델은 표본 스캔을 시작하고, 데이터는 매우 빠른 속도로 처리, 분석됩니다. S-8820 은 또한 첨단 분석 장비로, 다양한 물질에 대한 정교한 이미징 및 분석을 가능하게 합니다. 이 시스템은 서피스 지형 (surface topography), 서피스 거칠기 (surface roughness), 그레인 크기 (grain size) 및 재료 분석에 중요한 기타 특성과 같은 특성을 감지하고 측정 할 수 있습니다. 이 장치에는 정교한 이미지 처리 툴킷이 포함되어 있어 3 차원 재구성 및 서피스 피쳐 측정이 가능합니다. 전반적으로 S 8820 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 은 다양한 표본의 높은 정확성과 고속 분석에 이상적인 선택입니다. 대형 챔버 사이즈 (chamber size), 고급 자동 샘플 피더 (automatic sample feeder) 및 고해상도 정전기 렌즈 머신 (electrostatic lens machine) 은 고급 이미징 및 분석 작업에 매력적인 옵션입니다. 첨단 분석 기능, 이미지 처리 툴킷, 빠른 스캐닝 기능을 통해 HITACHI S-8820 은 다양한 애플리케이션에 안정적인 데이터를 제공할 수 있습니다.