판매용 중고 HITACHI S-8820 #9266235
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판매
ID: 9266235
웨이퍼 크기: 8"
빈티지: 1997
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 8"
Magnification: 1,000x to 150,000x
Depth of focus: >= 1.0 mm @ 80,000x Magnification
Resolution: 5 nm @ 800 V on CRT
Optical microscope: Monochrome CCD camera
Fixed mag: 110x, Workstation
HP 715-64 Computer (Later model)
Multipoint measurement function
Edge roughness function
Contact hole measurement function
Automated image archiving function
LEYBOLD 50 Turbo on load-lock
LEYBOLD 340 Turbo on main chamber
Power supply: 100 V AC, 50 Amp
1997 vintage.
HITACHI S-8820은 광범위한 이미징 및 분석 애플리케이션을 위해 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 SEM은 최신 기술 혁신을 통합하여, 현미경에서 탁월한 고급 기능과 기능을 제공합니다. HITACHI S 8820은 스캐닝 및 전송 전자 현미경의 요소를 결합한 독특한 하이브리드 디자인을 특징으로합니다. 이를 통해 1/4 ~ 3 백만 번의 광범위한 이미지 유형과 확대율이 가능합니다. 제공되는 가장 높은 배율은 단일 원자와 작은 세포소기관의 자세한 이미지를 허용합니다. S-8820 은 간편하고, 사용자에게 친숙한 인터페이스를 제공하며, 다양한 이미징 및 분석 기능을 갖추고 있습니다. 여기에는 brightfield, DIC (darkfield and differential interference contrast) 이미징과 에너지 분산 x- 선 분광법 (EDX) 기술을 사용하여 샘플에서 원소 정보를 얻을 수있는 기능이 포함됩니다. 이 시스템은 고속 디지털 신호 프로세서로 구동되며 자동 초점 장치 (auto-focusing device) 를 탑재하여 최적의 이미지 화질을 제공합니다. 내장형 디지털 이미지 증폭기 (Integrated Digital Image Amplifier) 를 사용하면 추가 장치 또는 도구 없이도 매우 작은 개체 또는 희미한 신호를 캡처할 수 있습니다. 또한 S 8820 에는 고급 이미지 처리 시스템 (Advanced Image Processing System) 이 있어 여러 이미지를 하나의 복합 이미지로 어셈블할 수 있습니다. 첨단 디지털 분석 기능 (advanced digital analysis function) 과 결합하여 다양한 재료에 대한 정량적 정보와 측정을 제공할 수 있습니다. HITACHI S-8820 에는 다양한 소프트웨어 패키지가 포함되어 있어, 사용자가 이미지를 분석하고, 대비를 최적화하고, 보고서와 프레젠테이션을 간편하게 작성할 수 있습니다. HITACHI S 8820 은 독보적인 기능과 기능을 바탕으로 연구, 교육, 산업 분야에 이상적인 툴입니다.
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