판매용 중고 HITACHI S-8820 #9266234

HITACHI S-8820 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 전 세계 다양한 과학 연구 분야에서 사용되는 고급 벤치탑 모델입니다. 현미경은 고급 탐지 시스템과 결합 된 FEG (field emission gun) 를 사용하여 1,000 ~ 300,000X의 배율로 표본의 고해상도 이미지를 얻습니다. HITACHI S 8820 (HITACHI S 8820) 과 같은 SEM은 의학, 재료 과학 등 다양한 분야에서 표본 표면에 걸쳐 풍부한 지형 및 화학 분석을 제공합니다. 기기의 FEG는 이미지의 정확성과 정확성에 매우 중요합니다. "페그 '는 좁은 전자 의 광선 을 내는데, 그 광선 의 직경 은" 빔' 의 전압 에 반비례 한다. 전자 빔의 직경은 또한 이미지의 해상도를 결정합니다. 빔 직경이 작을수록 해상도가 높아집니다. S-8820의 FEG는 3KV, 5KV 및 10KV에서 작동하며 1KV의 'High Vacuum' 모드로 작동하여 전자 빔에 대한 뛰어난 제어를 제공합니다. S 8820 Scanning Electron Microscope는 최적의 이미지 품질을 위해 고급 감지 시스템을 사용합니다. 여러 가지 탐지기 들 이 함께 표본 의 표본, 부피 혹은 표면 으로부터 반사 된 전자 들 을 포착 하여, 전통적 인 광학 현미경 보다 훨씬 더 많은 "데이터 '를 제공 한다. HITACHI S-8820은 SE 신호 검출기를 제공하며, 이는 전자 반사 신호의 수를 높은 정확도로 측정하고, 개선 된 원소 및 표면 특징 분석을위한 BSD (BackScattered Electron Detector) 및 지속적인 가변 심도 전압을위한 2 차 전자 검출기 (SED) 를 제공합니다. HITACHI S 8820 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 에는 2 차 전자 이미징 모드가 포함되어 있으며, 샘플 준비 없이도 표본의 메이크업과 구조를 자세히 살펴 봅니다. 이 작동 모드를 사용하면 다공성, 섬유질 및 불규칙 표본의 빠른 이미징이 가능합니다. 또한, S-8820에는 환경 SEM (ESEM) 모드가 있으며, 이는 표면 준비 또는 표면 코팅이 필요하지 않은 수화 또는 연질 재료를 이미지화하는 데 사용될 수 있습니다. 이 모드를 사용하면 기본 (native) 상태에서 객체를 캡처하여 더 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. S 8820 의 유연성과 범위를 통해 모든 실험실 환경에 원활하게 통합할 수 있습니다. 현미경의 사용자 친화적 인 디자인 (user-friendly design) 과 자동화된 기능을 통해 과학자들은 프로젝트에 가장 도움이 되는 어떤 방식으로 연구를 수행 할 수 있습니다. 최첨단 단층 촬영 및 3D 이미징 기능을 통해 탁월한 구조 및 품질 분석을 수행할 수 있습니다. HITACHI S-8820 (HITACHI S-8820) 은 고해상도와 손쉬운 사용자 인터페이스를 함께 사용하면 과학자들에게 전문적인 연구를위한 귀중한 도구를 제공합니다.