판매용 중고 HITACHI S-8820 #9202300
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ID: 9202300
빈티지: 1996
Scanning electron microscope (SEM)
Main unit
Controller
Microscope column
Magnification:
SEM Image: 1000x to 150,000x
Optical microscope: 110x
Measurement range: 0.1 to 10 µm
Type: SMIF, 8" Loader
(2) Dry pumps
ALP/STP Sample
1996 vintage.
HITACHI S-8820 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 샘플의 표면 구조, 형태 및 구성을 분석하는 데 사용되는 강력한 진단 도구입니다. 이 제품은 0.5 나노미터 크기의 기능을 확인할 수 있는 고해상도 이미징 기능을 제공합니다. 이 강력 한 영상 "시스템 '은 광범위 한 분석" 애플리케이션' 의 문 을 열어, 연구가 들 이 미세 한 규모 의 표본 들 을 조사 할 수 있게 해 준다. HITACHI S 8820은 고해상도 이미지를 볼 수있는 대형 8 인치 K.S. 파노라마 디스플레이를 갖추고 있으며, 최대 300,000 x 확대되어 있습니다. 고성능 전자 총 시스템은 또한 eV를 1 eV까지 낮추고 원소 미세 분석이 가능합니다. 현미경에는 고급 이미징 및 분석을 수행하기 위한 다양한 소프트웨어가 포함되어 있습니다. 여기에는 이미지 노이즈를 제거하고 정확도를 향상시키는 데 도움이 되는 [평균] 및 [드리프트 교정] 과 같은 기능이 포함됩니다. 또한 Drift Correction과 같은 다양한 고급 기능도 포함되어 있습니다. 이를 통해 사용자는 일관된 명암과 최적의 해상도로 정확한 이미지를 만들 수 있습니다. S-8820은 단기 및 장기 표본 저장, 샘플 틸트 조정, 저항 또는 전도성 스퍼터 코팅 등 다양한 샘플 준비 기술을 지원합니다. 또한 백스캐터 이미징 (backscatter imaging) 및 자동 이미지 스티칭 (automated image stitching) 옵션을 선택하여 대규모 샘플을 신속하게 분석 할 수 있습니다. S 8820 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 은 과학자와 연구원 모두에게 귀중한 도구이며, 정확한 해상도로 고품질 이미지를 제작할 수 있습니다. 사용이 간편한 소프트웨어와 다양한 샘플링 기술을 통해 분석 (analytical) 및 산업 (industrial) 샘플의 수동/자동 처리에 적합합니다. HITACHI S-8820 (HITACHI S-8820) 은 대형 시청 패널과 향상된 전자 방출 (Electron Emission) 을 통해 물질의 미세 구조를 분석하여 사용자의 상세한 물리 및 화학을 밝혀낼 수 있습니다.
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