판매용 중고 HITACHI S-8820 #9189515

HITACHI S-8820은 표면 지형 및 결함을 분석하는 데 이상적인 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 도구는 반도체 평가, 실패 분석, 생명 과학 연구 등 다양한 응용 분야에 사용될 수 있습니다. HITACHI S 8820 은 다양한 기능을 제공하여 연구원들이 고해상도, 고감도, 뛰어난 이미지 안정성을 제공합니다. 이 제품은 현장 방출 소스 (Field Emission Source) 를 활용하여 뛰어난 해상도로 이미지를 생성할 수 있습니다. 다양한 콘덴서 렌즈는 향상된 신호 대 잡음 비율을 제공하며, 이미지 해상도를 높일 수 있습니다. 이 현미경의 확장 된 감지 가능한 신호 범위 (expanded detectable signal range) 는 또한 거대한 동적 범위를 제공하며 희미한 신호를 관찰하고 전체 신호를 더 밝게 전달 할 수 있습니다. 또한 전자 빔 제어 (Electron Beam Control) 에 대한 고급 알고리즘과 뛰어난 위치 지정 정확도를 제공하여 안정적이고 반복 가능한 이미징 성능을 제공합니다. 초고속 가속 전압 범위가 특징이며, 샘플에서 산화 (oxidation) 와 같은 동적 현상을 관찰 할 수 있습니다. S-8820 (S-8820) 은 큰 표본 챔버를 사용하여 큰 표본 직경을 수용 할 수 있으며보다 철저한 분석을 할 수 있습니다. S 8820 은 탁월한 데이터 분석 기능도 제공합니다. 디지털 신호 처리 (예: 빼기, 이미지 추가) 를 통해 제어할 수 있는 다양한 기능이 특징입니다. 또한, 컴퓨터 제어 단계 (computer-controlled stage) 및 빔 스캐닝 (beam scanning) 을 통해 깊이 프로파일을 쉽게 측정 할 수 있으며, 이는 전동식 초점 시스템을 포함시키는 데 더 도움이 됩니다. 자동 초점 (auto-focusing) 피쳐는 샘플 서피스와 일치하도록 설정하고 조정할 수 있으며, 이미지 및 측정 결과를 최적화할 수 있습니다. 전반적으로, HITACHI S-8820은 뛰어난 스캐닝 전자 현미경으로, 샘플에 대한 명확하고 상세한 통찰력을 갖춘 연구를 제공 할 수 있습니다. 이 제품은 현장 방출 소스 (Field Emission Source), 전동 초점 시스템 (Motorized Focus System), 강력한 데이터 분석 기능을 통해 정확하고 고해상도 이미징 성능을 제공합니다.