판매용 중고 HITACHI S-8820 #293606931

HITACHI S-8820 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 고급 금속 분석, 재료 연구 및 나노 기술 응용 분야를위한 뛰어난 도구입니다. 초고해상도 이미징 (Ultra Resolution Imaging) 및 분석 (Analysical) 기능을 제공하는 다양한 고급 기능을 통해 분석 및 스캐닝을 수행할 수 있습니다. HITACHI S 8820 (HITACHI S 8820) 은 고급 전자 빔 장비와 여러 정교한 탐지 시스템을 결합하여 뛰어난 유연성과 사용 편이성을 제공합니다. 이중 동적 아크 열 전자 건과 쉽게 조절 가능한 10 SEM 렌즈 시스템 (1nm 이상) 이 특징입니다. 빠른 분석 장치는 픽셀 크기가 0.125 "m '인 이미지를 얻을 수 있습니다. 이 기기는 또한 15kV 고전압 공급 장치 (High Voltage Supply) 와 고속 탐지기 (Fast Detector) 를 갖추고 있어 매우 전도성이 높은 금속 및 기타 재료를 매우 높은 명암으로 이미징 할 수 있습니다. 저확대 응용 프로그램의 고대비 이미징을 위해 고대비 이미징 기능을 사용할 수 있습니다. 또한 S-8820 은 내장형 디지털 프리앰프 (preamplifier) 와 조절 가능한 이득 (gain) 을 제공하여 다양한 이미지 명암과 밝기 설정을 제공합니다. 이렇게 하면 샘플의 이미지 품질을 세밀하게 조정할 수 있습니다. 내장형 ICCD 기능은 백그라운드 노이즈 (background noise) 를 억제하고 이미지의 전반적인 선명도를 높여 샘플에 대한 향상된 보기를 제공합니다. 또한 S 8820 SEM은 통합 자동 단계 (automated stage) 및 가변 입사각 (variable angle of incidence) 을 통해 예제 탐색 및 이미지 입수를 쉽게 수행할 수 있습니다. 6 위치 자동 스테이지에는 정확한 스테이지 탐색을 위해 고해상도 스텝 모터가 장착되어 있습니다. 이미지 및 데이터 처리를 위해 HITACHI S-8820 은 정교한 이미지 처리 제품군과 데이터 분석 소프트웨어를 갖추고 있습니다. 소프트웨어 (Software) 제품군은 자동 스티칭 (auto-stitching) 기능을 제공하여 더 큰 샘플 영역을 효과적으로 분석하여 보다 높은 수준의 세부 사항을 제공합니다. 또한 내부 메모리에 최대 1000 개의 이미지를 저장하여 손쉽게 검색하고 분석할 수 있습니다 (영문). HITACHI S 8820 SEM은 고급 전자 빔 머신, 정교한 이미징 및 데이터 분석 기능, 자동 샘플 내비게이션 (Sample Navigation) 을 통해 고급 금속 분석, 재료 연구 및 나노 기술 응용을위한 고가용성 도구입니다.