판매용 중고 HITACHI S-8800 #9265146

HITACHI S-8800
ID: 9265146
웨이퍼 크기: 8"
Scanning Electron Microscope (SEM), 8".
HITACHI S-8800은 다양한 샘플에 대한 최고 해상도 이미징을 달성 할 수있는 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 고해상도 (High Level Resolution) 로 인해 세계에서 영상 (Imaging) 과 분석 (Analysis) 을 위한 가장 발전된 도구 중 하나입니다. S-8800에는 FEG (Field Emission Gun) 스캐닝 전자원이 장착되어 있으며, 10nm 미만의 해상도와 최대 500,000배의 배율로 고정밀 이미지를 생성할 수 있습니다. 이를 통해 현미경은 놀라운 선명도와 디테일로 나노 구조를 이미지화 할 수 있습니다. 또한 FEG 소스는 신호 대 잡음비 (signal-to-noise ratio) 를 향상시키고 배경 노이즈를 줄입니다. HITACHI S-8800 은 두 가지 병렬 이미징 모드를 통해 이미징 속도를 향상시키며, 아티팩트 충전 효과를 최소화합니다. '컬렉션 반도체 이미징' (CSI) 모드는 고해상도 이미징을, '2 차 전자 이미징' (SEI) 모드는 더 높은 이미지 적용 속도를 제공합니다. 프로브 형성 (Probe-forming) 기능을 통해 현미경은 전하 밀도의 작은 변화를 감지하여 표본 구조 및 조성을 자세히 분석 할 수 있습니다. 2 차 전자 검출기, BSE (백스캐터 전자) 및 다양한 유형의 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 을 포함하여 특수 화상 시스템도 사용할 수 있습니다. S-8800 의 샘플 스테이지에는 고속 피드 스루 X-Y 모터 드라이브 (fast feed-through X-Y motor drive) 가 장착되어 있어 표본을 이미징을 위해 원하는 위치로 빠르고 정확하게 이동할 수 있습니다. 샘플 스테이지는 또한 크리오 홀더 (cryo-holders) 와 환경 챔버 (environmental chamber) 를 포함한 다양한 표본 홀더를 수용 할 수 있습니다. 이미징 기능 외에도 HITACHI S-8800은 3D 이미지 분석, 필름 두께 측정, 이미지 기반 입자 크기 조정, 고속 이미지 캡처 및 분석, 시간 평균을 포함한 자동 풀 프레임 이미징 등 다양한 분석 도구를 제공합니다. S-8800 은 매우 강력한 기능으로, 다양한 샘플 유형에 대해 매우 높은 해상도의 이미지와 강력한 분석 기능을 제공합니다. 빠르고 신뢰할 수 있는 이미징 성능과 결합된 이 다용도 (versitility) 는 여러 분야에 걸친 연구에 적합한 선택입니다.
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