판매용 중고 HITACHI S-8620 #9148294

HITACHI S-8620은 영상 및 분석 연구에 사용될 수있는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 전자 현미경은 집중된 전자의 빔을 사용하여 광범위한 확대 (magnification) 에 걸쳐 표본의 고해상도, 미세한 이미지를 생성합니다. 최대 3nm의 해상도까지 고해상도 이미지를 사용할 수 있습니다. HITACHI S 8620 은 0.1 ~ 30 kV 의 광범위한 작동 전압으로 작동하여 다양한 소재 이미지를 찍을 수 있습니다. 이 장비에는 완전 자동화된 자동 정렬 (auto-alignment) 및 초점 시스템 (focus system) 이 장착되어 있어 작동의 정확성과 편리성을 높입니다. S-8620 은 자동화된 오명 (stigmation) 및 초점 (focus) 기능을 갖추고 있어 최적의 빔 크기와 모양을 제공하여 최대의 해상도와 화질을 제공합니다. 또한 거의 잡음이 없는 이미지를 유지하면서 매우 높은 에너지 전자를 사용할 수있는 전자원 (field emission scanning electron source) 을 가지고 있습니다. 이 장치는 원소 매핑, 위상 대비 이미징, 2 차 전자 이미징과 같은 이미징 및 분석 응용 모두에 사용할 수 있습니다. S 8620 에는 또한 광역 범위 (dynamic range) 를 가진 2 차 전자 검출기가 있어 고강도 및 저강도 신호를 모두 캡처할 수 있습니다. "검출기 '에는 각기 다른 표본 형태 의" 이미지' 를 최적화 하는 데 사용 할 수 있는 자동화 된 이득 조정 기능 도 있다. 또한, 현미경에는 정확한 표본 위치를 제공하는 고해상도 디지털 x-y 스테이지가 있습니다. 이 단계에는 정렬을 돕기 위해 사용할 수 있는 비디오 디스플레이도 내장되어 있습니다 (영문). HITACHI S-8620 은 사용자 환경을 향상시키는 다양한 기능을 제공합니다. 여기에는 표본의 자동 정렬 및 교정, 두께, 모서리 위치, 프로파일 등의 특성 자동 측정이 포함됩니다. 또한 다양한 기능을 갖춘 데이터 관리 시스템 (data management machine) 을 통해 데이터를 빠르고 효율적으로 저장하고 처리할 수 있습니다. 결국, HITACHI S 8620은 고급 스캐닝 전자 현미경으로, 사용자에게 뛰어난 이미징 및 분석 도구를 제공합니다. 다양한 기능을 통해 다양한 확대/분석 애플리케이션에서 고해상도 (High-resolution) 이미지를 캡처할 수 있습니다. 자동화된 낙인 찍기 및 초점 기능, 2 차 전자 검출기 및 디지털 x-y 스테이지가 포함되면서 S-8620은 연구 및 산업 환경에서 이미징 및 분석 애플리케이션에 이상적인 선택이되었습니다.