판매용 중고 HITACHI S-800 #73603
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ID: 73603
Scanning Electron Microscope, 2nm resolution, load lock can accommodate 2x2 samples, manual stage with 5 degrees movement - X, Y, Z, R & T. Currently operating and installed, can be demonstrated and inspected.
HITACHI S-800 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 금속학 및 현미경 분야의 최첨단 도구입니다. 고해상도 이미징 (high resolution imaging) 을 통해 다양한 재료의 서피스 피쳐, 구성 및 구조를 평가하는 데 사용할 수있는 다용도 도구입니다. HITACHI S800 (HITACHI S800) 은 샘플에 중점을 둔 전자 빔을 사용하여 나노 미터 스케일에서 이미지를 생성하고 미세 분석을 수행합니다. 전자빔은 작은 산란 각도 (scattering angle) 로 인해 해상도를 잃었는데, 이는 작은 기능조차도 좋은 대조로 감지 할 수 있음을 의미합니다. 가벼운 현미경과 달리 S-800은 광자가 아닌 전자를 사용하여 이미지를 생성합니다. 결과적으로, S800은 더 나은 해상도, 더 높은 확대, 더 넓은 심도, 더 정확한 구성 정보를 제공합니다. HITACHI S-800 은 환경 챔버 (Environmental Chamber) 를 장착하여 다양한 환경에서 다양한 샘플을 분석할 수 있습니다. 다양한 배율로 이미지를 캡처하는 데 사용할 수있는 전동식 스테이지 (motorized stage) 와 저소음 검출기 (low-noise detector) 가 특징입니다. 현미경에는 폭, 높이 측정, 입자 크기, 컴포넌트 모양 측정, 표면 거칠기 또는 결함 추정 등 다양한 측정 기능이 포함되어 있습니다. HITACHI S800 은 사용자 친화적인 제품으로 설계되었으며, 최소 수준의 교육을 받은 직원이 운영할 수 있습니다. 고품질 이미지와 데이터를 빠르고 정확하게 수집할 수 있으며, 이를 통해 재료과학 (materials science), 고장 분석 (failure analysis) 등 다양한 애플리케이션에 이상적인 장치로 활용할 수 있습니다. S-800 은 신뢰성이 뛰어나고 광범위한 지원 네트워크가 지원됩니다. 사용자에게 친숙한 제어 소프트웨어를 통해 사용자는 이미지를 조작하고 기본적인 미세 분석 (microanalysis) 을 쉽게 수행할 수 있습니다. 고급 사용자의 경우, S800은 필터, 대비, 밝기 조정 등 다양한 사용자 정의 옵션을 제공합니다. 요약하자면 HITACHI S-800 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 은 재료 과학 및 고장 분석을 포함한 많은 응용 분야에 적합한 고급 도구입니다. 고해상도 이미징, 전동 단계, 저소음 감지기 및 다양한 측정 기능을 제공합니다. 사용이 간편한 제어 소프트웨어로서, 광범위한 지원 네트워크 (support network) 를 통해 사용자가 필요할 때 항상 도움을 받을 수 있습니다.
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