판매용 중고 HITACHI S-7840 #9225865

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ID: 9225865
빈티지: 2001
Scanning electron microscope (SEM) Port, 6" (6) Holders A IP1 Vacuum: <0.5 x 10^-7Pa Canceller: MK3 Vibration table HV Cont: 15 kV Options: Multi point measurement Edge roughness Hole measurement Reduced scan Image database Auto vid Save to DOS FD IP Read Operator accessories Corner measurement Power: 100V, 50Hz 2001 vintage.
HITACHI S-7840은 고급 이미징 기능을 위해 설계된 고성능 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 그 뛰어난 분석 능력은 다양한 분야의 연구 응용에 이상적으로 적합하다. & # 160; & # 160; 매우 민감한 에너지 분산 X- 선 분광계 (EDS) 와 고해상도 2 차 전자 영상 시스템이 특징입니다. HITACHI S 7840의 최대 가속 전압은 30kV이며 0.5nm 해상도의 이미징 시스템이 장착되어 있습니다. 직경이 최대 50mm 인 샘플을 스캔 할 수 있으며, 정확한 샘플 조작을위한 통합 샘플 스테이지가 있습니다. S-7840 은 저가속 전압 (low accelerating voltage) 에서 높은 감도를 가지며, 섬세한 영상 작업을 위해 낮은 전자 빔 전류 밀도를 갖습니다. S 7840의 이미징 시스템은 고대비 이미지를 위해 브라이트 필드 검출기와 결합 된 2 차 전자 검출기 (secondary electron detector) 와 역 흩어진 전자 검출기를 사용합니다. HITACHI S-7840에는 향상된 분석 기능을 위해 EBSD (electron backscatter diffractor) 및 EDS (energy-dispersive X-ray spectrometer) 옵션이 있습니다. HITACHI S 7840 (HITACHI S 7840) 은 자동화된 이미지 획득을 위해 쉽게 프로그래밍이 가능하며, 모델이 탑재한 특수 이미징 소프트웨어를 사용하여 원격 PC에서 제어할 수도 있습니다. 또한 특수 3D (3D) 기능을 사용하여 3D 이미지를 얻을 수 있으며, 자동 정렬 기능을 사용하여 외부 샘플과 스테이지를 정렬할 수도 있습니다. 해상도 및 속도 측면에서 S-7840 은 매우 빠르고 정확하며, 샘플에서 서브 미크론 해상도 (sub-micron resolution) 기능을 감지할 수 있습니다. 분석 성능, 빠른 이미징 속도, 다양한 응용 프로그램으로 인해 분자 생물학, 재료 과학, 나노 기술 분야의 많은 연구 응용 분야에 적합합니다. 또한, 자동화된 운영 및 다른 시스템과의 손쉬운 통합을 통해 매우 효율적이고 유연한 이미징 (imaging) 솔루션이 될 수 있습니다. 결론적으로, S 7840은 고급 이미징 및 분석 기능을 위해 설계된 뛰어난 스캐닝 전자 현미경입니다. 뛰어난 감도, 해상도, 속도를 통해 연구 및 산업 응용에 이상적인 선택이 됩니다. 다용도 기능과 간편한 프로그래밍 기능을 통해 매우 효율적이고 신뢰할 수 있는 이미징 솔루션이 됩니다.
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