판매용 중고 HITACHI S-7840 #293815241

HITACHI S-7840은 다양한 재료와 샘플에 대한 고급 검사 및 분석을 위해 설계된 최첨단 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 고급 도구 (Advanced Tools) 는 최대 500,000배까지 확장할 수 있는 최고 해상도를 제공하며, 세부 사항을 해결할 수 있는 최고의 선명도를 제공합니다. HITACHI S 7840 은 가변 압력 탐지기 (Variable Pressure Detector), 2 개의 e-gun 시스템 중 선택, 그리고 종합적인 수준의 분석 및 이미징 기능을 제공하는 이중 탐지기 구성을 갖추고 있습니다. S-7840은 가변 압력 기술을 사용하여 UHV (Ultra-High Vacuum) 및 기타 진공 모드에서 자동 관찰, 측정 및 검사를위한 비 전도성 샘플 및 기능의 충전을 줄입니다. 가변 압력 탐지기 (variable pressure detector) 는 더 큰 비전도 샘플에 대한 오염 생성을 제거하고, 다양한 응용 프로그램에 대한 시스템 유틸리티를 증가시킵니다. FEG (Field Emission Gun) 와 TEG (Thermionic Gun) 의 두 전자 건 시스템은 높은 해상도와 감도를 제공합니다. S 7840 은 또한 전문 소프트웨어 제품군을 통해 자동 방향 분석 및 형태 인식 기능을 제공합니다. 샘플은 자동으로 정렬되며, 소프트웨어는 입자와 미세 구조의 모양을 자동으로 감지하고, 측정하고, 보고할 수 있습니다 (다양한 재료). 이 고급 (Advanced) 기능은 사용자가 매우 정확한 치수 측정을 얻을 수 있도록 도와 주고, 고급 자동화를 통해 샘플의 다양한 특성을 신속하게 얻을 수 있게 해 줍니다. HITACHI S-7840은 또한 AIAS (Automated Image Acquisition System) 를 통해 높은 정확도를 제공합니다. 이 옵션을 사용하면 최소한의 시간과 노력으로 이미지를 자동으로 얻을 수 있습니다. AIAS 는 패턴 인식 (pattern recognition) 기능을 제공하며, 이를 통해 시야를 샘플에 맞게 자동으로 조정하고 이미지를 얻어 효율성을 높일 수 있습니다. 또한 HITACHI S 7840 은 고급 스캐닝 및 자동 초점 기능, 자동 스러 스터 제어 (Automated Thruster Control), 무진동 (Vibration-Free) 등의 고급 기능을 갖춘 최적의 이미징 환경을 제공합니다. 이러한 기능은 사용자가 이미징 기능을 최대화하고, 결과의 정확성과 품질을 향상시키는 데 도움이 됩니다. 전반적으로 S-7840은 강력하고 다목적 스캐닝 전자 현미경으로, 상세한 소규모 이미징, 분석, 검사를 위해 높은 수준의 해상도와 선명도를 제공합니다. 최신 분석 기능 (analytical capability) 과 자동 샘플 처리 (automated sample handling) 기능을 제공하여 연구자와 엔지니어는 광범위한 재료의 미세 구조에 대한 자세한 통찰력을 밝힐 수 있습니다.