판매용 중고 HITACHI S-7840 #293800274

HITACHI S-7840은 HITACHI High Technologies에서 만든 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 연구 개발 (Research and Development) 에 이상적인 이 SEM은 매우 높은 수준의 성능과 정확성을 제공할 수 있습니다. HITACHI S 7840 은 다양한 첨단 기술을 통해 고해상도 이미징 및 측정 결과를 제공합니다. SEM은 수차 교정 전자원 (FES) 을 자랑하며, 이를 통해 고도로 제어되고 집중된 빔 에너지와 조명을 허용합니다. 이를 통해 S-7840은 빔 안정성과 더 높은 수준의 명암과 해상도를 제공합니다. 또한, 높은 수준의 빔 안정성을 통해 스캐닝 속도가 빨라지고 화질이 높아집니다. S 7840은 또한 획득한 이미지를 표시하기 위해 대용량, 고해상도 디스플레이를 갖추고 있습니다. 이 디스플레이 (Display) 는 기기 앞에 있으며, 이를 통해 사용자는 이미지 조작 및 직접 비교에 액세스할 수 있습니다. 이 디스플레이는 직관적이고 직관적인 사용자 제어 기능 (User Control) 을 제공하여 사용자에게 작업 유연성을 제공합니다. HITACHI S-7840 은 또한 정교한 이미지 분석을 지원하는 디지털 이미지 분석 시스템을 갖추고 있습니다. 이 시스템은 기하학적, 명암비, 그라디언트 분석을 통해 강력한 데이터 분석 기능을 제공합니다. HITACHI S 7840 은 고급 이미징 기술 외에도 자동화된 샘플 단계를 자랑합니다. 이 단계에서는 자동으로 샘플 포지셔닝 및 측정을 수행할 수 있습니다. 샘플 스테이지는 또한 샘플 교체를 신속하게 수용하여 정확하고 반복 가능한 측정을 허용합니다. S-7840은 다양한 샘플 홀더 및 액세서리와도 호환됩니다. 여기에는 최대 400mm 크기의 표본, 다양한 모양의 표본, 다양한 재료의 표본 보유자가 포함됩니다. S 7840에는 챔버 조건을 제어하기위한 진공 펌프가 내장 된 예비 챔버 (preparatory chamber) 도 있습니다. 이것은 얇고 비 전도성 층으로 섬세한 표본을 코팅하는 데 특히 유용합니다. 전반적으로, HITACHI S-7840은 나노 (Nano) 스케일에서 다양한 재료 샘플을 이미징 및 측정하기위한 고급 및 기능 기반 도구입니다. 첨단 이미징 기술과 자동화된 샘플 스테이지 (sample stage) 를 통해 완벽한 연구 개발 툴이 될 수 있습니다.