판매용 중고 HITACHI S-7840 #293639332

HITACHI S-7840 은 최첨단 스캐닝 전자 현미경, 즉 SEM (Scanning Electron Microscope) 으로 연구 센터, 대학 및 기타 분석 시설의 요구 사항과 예산에 부합하는 다양한 기능과 고급 기능을 갖춘 고해상도 이미징 기능을 제공합니다. SEM은 높은 진공 및 가변 전류 밀도를 포함한 고급 열 제어 기술 (advanced column control technology) 을 특징으로하며, 이를 통해 사용자는 전자 빔 매개변수를 정확하게 조정하여 해상도를 최적화하고 동적 범위를 극대화할 수 있습니다. 따라서 선명하고 선명한 고해상도 이미지와 뛰어난 심도를 제공합니다. 또한 여러 유형의 내비게이션 시스템 (navigation system) 과 최적의 이미지 캡처 및 정렬을 위한 다양한 작업 거리 조정 (working distance adjustment) 을 포함하여 다양한 시편이 있습니다. 이 장비는 자동화된 이미지 획득, 실시간 이미지 처리, 다양한 이미지 분석, 수량 데이터 수집을 위한 고급 소프트웨어와 통합됩니다. 또한 작업을 단순화하기 위해 다양한 자동화, 제어, 매핑 기능, 직관적인 사용자 인터페이스를 제공합니다. 또한 SEM에는 자동 초점, 수동 초점, 에너지 분산 X 선 분광을 위한 EDX 등 다양한 사용자 친화적 데이터 처리 및 시각화 툴이 있습니다. 이를 통해 사용자는 추적 요소 (trace element) 와 등급 선택적 여과 (grade selective filtration) 뿐만 아니라 샘플의 구성을 빠르고 쉽게 분석 할 수 있습니다. 또한 자동 단계 (automated stage) 를 특징으로하여 샘플의 정확하고 정확한 정렬 및 동력 샘플 홀더를 사용할 수 있습니다. 또한, 이 기기는 최대 1 m의 인상적인 스캔 범위와 매우 깊은 분야를 가지고 있으며, 유기 및 무기 샘플의 고해상도 이미지를 노출시킵니다. 또한 비 전도성 샘플을 처리하기 위해 보조 스캐닝 시스템 (auxilliary scanning system) 과 매우 민감한 2 차 전자 검출기 (secondary electron detector) 가 장착되어 있어 작은 기능을 안정적이고 반복적으로 측정 할 수 있습니다. 전반적으로, HITACHI S 7840은 성능과 가치의 완벽한 조합을 제공하는 고급 스캐닝 전자 현미경입니다. 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 기능과 다양한 기능과 기능을 갖춘 이 제품은 다양한 연구/실험실 응용프로그램을 위한 이상적인 도구입니다.