판매용 중고 HITACHI S-7800 #61575

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ID: 61575
웨이퍼 크기: 6"-8"
Cold field emission scanning electron microscope, 6"-8" Resolution: 5nm SE Detector: Through the lens type Magnification: 150,000x Accelerating voltage: 0.5 kV - 15 kV Measuring range: 0.1mm - 10mm Measurement repeatability: 15nm at 3 sigma Stage: 5-axis CPU controlled X, Y: 0-200mm Z: 4, 7, 12 mm T: 0-30°, R: 360° Stage positioning accuracy: 10 um Wafer handling: Cassette to cassette Vacuum system: Rotary, turbo and ion pumps Evac control: Automatic Pattern recognition: standard Measurement: Menu driven Interface with defect inspection system EDX.
HITACHI S-7800 주사 전자 현미경 (SEM) 은 광범위한 과학 및 산업 응용 분야에 사용되는 강력한 연구 도구입니다. 이러 한 형태 의 전자 현미경 은 집중 된 전자 광선 을 사용 하여 "샘플 '을 상상 하고, 육안 의 최대 10 만 배 의 배율 을 달성 한다. 이것 은 연구가 들 이 인간 의 눈 에 보이지 않는 "샘플 '의 훌륭 한 세부점 을 관찰 할 수 있게 해 준다. S-7800 은 샘플의 작은 기능에 대한 초고해상도 이미징 기능을 제공합니다. 최대 30 kV 의 고전압 설정 (high voltage settings) 을 통해 사용자는 샘플에서 가장 작은 원자 수준 기능의 세부 이미지를 얻을 수 있습니다. HITACHI S-7800은 또한 샘플의 원소 조성을 분석하는 데 사용되는 통합 된 EDX (Energy Dispersive X-Ray 분광법) 장치를 갖추고 있습니다. 이것은 시각적으로 관찰 가능한 기능 이상의 귀중한 데이터를 제공합니다. S-7800 에는 환경 챔버 (environmental chamber) 가 장착되어 있어 다양한 온도 및 압력 조건에서 샘플을 연구 할 수 있습니다. 이것은 휘발성 화합물 연구에서부터 물질이 극단적 인 조건에 반응하는 방식에 대한 조사 (investation) 에 이르기까지 여러 가지 실험 가능성을 열어줍니다. HITACHI S-7800은 또한 2 차 전자 이미징, 스캐닝 이온 이미징, 파장 분산 분광과 같은 다양한 이미징 모드를 제공합니다. S-7800 은 소프트웨어 패키지 (software package) 를 탑재하여 연구원들이 특정 요구 사항에 맞게 현미경을 쉽게 작동시키고 최적화할 수 있도록 해 줍니다. 여기에는 최대 해상도의 빔 제어, 이미징 매개변수 설정, 추가 분석을 위한 디지털 이미지 기록 등이 포함됩니다. 요약하자면, HITACHI S-7800 은 광범위한 애플리케이션에 적합한 강력하고 다양한 스캐닝 방식의 전자 현미경입니다. 고배율 (High Magnization) 기능과 EDX 장치 (EDX Unit) 의 조합으로 원자 수준에서 재료 구조와 조성에 대한 연구에 이상적입니다. 또한 다양한 환경 조건에서 샘플을 수용 할 수 있으며, 물리학자, 화학자, 재료 과학자에게 귀중한 도구입니다.
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