판매용 중고 HITACHI S-7000 #9282901
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ID: 9282901
웨이퍼 크기: 4"-6"
빈티지: 1989
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 4"-6"
Secondary electron image resolution: 15 nm (150 angstroms) at 1 kV
Magnification: 100x to 100,000x
CD Measurement Range: 15 Å (15 nm)
Re-producibility: ± 0.02 µm / ±1%
Electron beam source: Field emission electron gun
Accelerating voltage: 0.7-3 kV (100 V/Step)
Measurement range: 0.1- 200 µm
Auto-focus and auto-stigmation
Automated CD measurement
Multi point measurement capability
Programmable stage: Up to 60° Tilt
1989 vintage.
HITACHI S-7000 스캔 전자 현미경 (SEM) 은 과학자와 엔지니어를위한 다용도 및 강력한 이미징 도구입니다. 3 나노 미터의 해상도와 최대 10 만 배의 배율을 달성 할 수 있습니다. S-7000 SEM 은 고속 이미지 획득과 다양한 이미징 기능을 제공합니다. HITACHI S-7000 (HITACHI S-7000) 은 전자와 보고 있는 대상 물질 사이의 상호 작용을 이용하여 이미지를 생성합니다. 입사 전자는 샘플과 상호 작용하기 전에 일련의 렌즈를 통해 이동합니다. 상호작용 (interaction) 은 일련의 2 차 전자 및 역 산란 전자를 생성하며, 이 전자를 사용하여 샘플의 이미지를 만들 수 있습니다. S-7000 은 스캐닝 시스템 (Scanning System) 을 통해 넓은 면적을 조사하거나 세밀한 세부 사항을 자세히 살펴볼 수 있습니다. HITACHI S-7000에는 수동 및 컴퓨터 제어 샘플 조작기가 모두 포함되어 있습니다. 이렇게 하면 사용자가 검출기 (Detector) 뷰 필드에서 샘플을 쉽게 이동, 회전 및 기울일 수 있습니다. "렌즈 '를 선택 하면 그 들 의" 응용프로그램' 에 대한 최적 의 영상 을 선택 할 수 있다. S-7000 SEM에는 고급 수량 이미지 분석 시스템 (Quantitative Image Analysis System) 이 장착되어 있어 샘플의 크기와 모양을 보다 정확하게 측정할 수 있습니다. 이 기능은 HITACHI S-7000을 형태 학적 연구 및 측정에 특히 적합합니다. S-7000 SEM에는 일련의 고성능 검출기가 제공되므로 필요에 따라 X-ray, EDS, EELS, CL 및 BSE 이미지를 캡처 할 수 있습니다. SEM에는 샘플 마운팅 (sample mounting) 과 쉽게 제거 및 교체 할 수있는 현장 진공 챔버 (in-situ vacuum chamber) 가 포함됩니다. 전체 HITACHI S-7000은 신뢰성, 정확성, 다용도 스캐닝 (scanning) 전자 현미경을 필요로 하는 모든 연구 프로젝트 또는 환경에 적합한 선택입니다. S-7000 은 고해상도 이미징 (High Resolution Imaging), 고급 이미징 (Advanced Imaging) 기능, 다양한 정량적 이미징 분석 기능을 통해 어떠한 배경의 과학자와 엔지니어에게도 이상적인 선택입니다.
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