판매용 중고 HITACHI S-7000 #76295

HITACHI S-7000 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 가장 발전된 과학 도구 중 하나입니다. S-7000 은 다양한 환경에서 샘플을 연구하고 나노 스케일 (nanoscale) 레벨 (해상도 1 마이크로미터 미만) 에서 세부 이미지를 제공하는 데 사용되는 매우 정확한 도구입니다. 신뢰할 수있는 이미지를 생성하기 위해 SEM은 전자 빔 (electron beam) 과 탐지, 초점 및 이미징에 여러 구성 요소를 사용합니다. 고전압 전원 공급 장치 (High Voltage Power Supply) 는 최대 30KV까지 전자 빔을 가속시켜 저배율에서 고배율 범위의 분석을 허용합니다. 그 다음 "콘덴서 '" 렌즈' 는 전자 광선 을 표본 에 초점 을 맞추고, 검출기 를 이용 하여 지형 영상 을 위한 역산포 전자 를 탐지 할 수 있다. 검출기는 또한 x- 선 분광기에서 신호를 검출하여 원소 매핑을 허용합니다. 최대 정확성과 정확성을 위해 HITACHI S-7000 은 소프트웨어/하드웨어 제어 기능을 갖춘 완전 컴퓨터 장비를 사용합니다. 즉, 광범위한 작동 조건 내에서 정확한 이미지를 생성하고, 최고 수준의 이미지 선명도를 유지하도록 설계되었습니다. 또한, S-7000 의 고급 전동 제어 시스템 때문에, SEM 은 수동 조정 없이 일관되게 작동 할 수 있습니다. HITACHI S-7000 은 또한 자동화된 유닛을 통해 표본을 안전하고 쉽게 번역, 회전, 조작할 수 있는 통합 "샘플 처리" 시스템을 갖추고 있습니다. 다시 말해, S-7000 은 수동 표본 처리의 필요성을 제거하므로, 이미지 처리 과정에서 오염이나 표본이 손상될 위험이 크게 줄어듭니다. 또한 HITACHI S-7000 은 샘플 유형 (sample type) 과 작동 매개변수 (operational parameter) 에 따라 다양한 변수를 생성할 수 있습니다. 즉, 이 SEM 의 기능은 다른 조건에서 적응력이 높고 신뢰할 수 있습니다. 전반적으로 S-7000은 미세 구조 및 나노 스코픽 샘플 분석에 귀중한 도구입니다. HITACHI S-7000 은 다양한 운영 유연성, 정확한 이미징 기능, 자동화된 샘플 처리 머신 등을 갖추고 있어 뛰어난 영상 (simimen imaging) 툴입니다.