판매용 중고 HITACHI S-7000 #293630324

HITACHI S-7000은 SEM (Scanning Electron Microscope) 으로, 일반 광 현미경보다 높은 해상도로 표본 샘플의 상세한 시각화를 포착하도록 설계되었습니다. 데스크톱 SEM (Desktop SEM) 은 다양한 과학 연구 분야에 이상적인 실험실 도구입니다. S-7000은 FEG (field-emission electron gun) 를 특징으로하며, 이는 매우 높은 전자 빔 해상도를 제공합니다. 이를 통해 현미경은 데이터 수집에 필요한 더 작은 샘플 볼륨의 보너스 (bous) 를 추가하여 세밀한 세부 사항을 캡처하는 데 더 적합합니다. 또한 표본의 모양과 크기를 정확하게 제어 할 수있는 쌍곡선 정전기 렌즈 시스템 (hyperbolic electrostatic lens system) 이 특징입니다. 또한, HITACHI S-7000에는 독특한 가변 압력 작동 시스템 (Variable Pressure Operation System) 이 제공되어 가스 환경 챔버가 손상되어 정확한 이미지 선명도를 유지합니다. 그것 은 "헬륨 '과 산소 의 결합 을 이용 하여 기압 의 영향 을 감소 시키고" 표본' 에 오염 을 최소화 시킨다. 이 기능은 또한 운영 환경의 민감도를 향상시켜 현미경 (microscopic) 과 나노 (nanoscopic) 세계의 정확한 이미지를 캡처 할 수 있습니다. S-7000은 또한 뛰어난 이미지 대비를 자랑하며, 이는 다양한 에너지 검출기와 높은 에너지 분산 X- 선 (EDX) 검출기를 통해 달성됩니다. 이 다양성의 검출기는 표본 샘플의 원소 성분에 대한 정확한 분석을 제공하기 위해 설계되었습니다. 또한 EDX의 높은 신호 대 잡음 비율을 통해 HITACHI S-7000은 매우 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. 최고 성능을 보장하기 위해 S-7000 에는 2 개의 고급 신호 처리 시스템 (이미지 생성 시스템 및 감지 신호 프로세서) 이 포함되어 있습니다. 이러한 신호 프로세서 (signal processor) 는 모은 원소 데이터를 표본의 명확하고 정확한 이미지로 변환하여 상당한 시간 (time in analysis) 을 절약하는 데 도움이됩니다. 또한, 신호 프로세서는 노이즈를 줄이고, 이미지 품질을 높이고, 신호 대 노이즈 비율을 향상시킵니다. HITACHI S-7000 의 추가 기능에는 현미경의 샘플 챔버 (sample chamber) 위치를 세밀하게 조정하는 스테이지 틸트 조작기 (stage tilt manipulator) 와 완전하게 자동화된 작동이 가능한 자동 작업 기능이 포함됩니다. 이를 통해 S-7000은 나노 과학 (nanoscience) 과 생의학 (biomedicine) 을 포함한 여러 분야의 연구를 위해 광범위한 응용 프로그램을 갖춘 매우 다용도 도구가되었습니다.