판매용 중고 HITACHI S-6280H #9145527

HITACHI S-6280H는 인상적인 기능이있는 고성능 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 내장형 디플렉션 코일 (Deflection Coil) 장비와 사전 스캔 이미징 시스템 (Pre-Scan Imaging System) 이 장착되어 있어 이미지 획득, 고속 이미징 및 작동 편의성이 향상됩니다. 사전 스캔 이미징 장치 (pre-scan imaging unit) 는 기계 처리량을 증가시키는 반면, 처짐 코일 도구는 더 작은 시야를 허용합니다. 표본 챔버에는 최대 360 ° 회전할 수있는 스테이지가 장착되어 있습니다. 이 기능을 사용하면 샘플을 이동할 필요 없이 전체 3D 이미징을 수행할 수 있습니다. HITACHI S-6280 H에는 직관적이고, 사용자에게 친숙한 디지털 다기능 컨트롤러가 장착되어 있어 이미징, 분석 측정, 정량적 분석 등 SEM 작업이 가능합니다. 컨트롤러에는 다양한 기능과 설정이 포함되어 있어 첨단 현미경 연구 (Advanced Microscopy Research) 를 위한 강력한 도구입니다. S-6280H는 Schottky field emiter로 알려진 냉장 방출 유형 전자 소스로 설계되었습니다. 이 Emiter는 플럭스 (Low-Flux), 고해상도 이미징 성능을 제공하도록 최적화되었으며, 기존의 열 방출 소스를 능가하는 에너지 해상도 기능을 갖추고 있습니다. 낮은 샘플 드리프트 (drift) 와 결합 된 높은 소스 성능은 더 넓은 영역에서 더 높은 해상도의 이미징을 허용합니다. S-6280 H는 수작업 (manual interaction) 의 양을 줄이기 위해 통합 자동 표본 로딩 자산으로 구성됩니다. 자동 로더에는 2 위치 표본 교환 챔버 (Simimen Exchange Chamber) 가 있어 샘플 사이를 쉽게 전환할 수 있으며 자동 로드/언로드 기능을 통해 실험을 빠르게 전환할 수 있습니다. 마지막으로 HITACHI S-6280H에는 이미징 및 분석 기능도 있습니다. 이 모델은 가변 빔 강도를 허용하는 조절 가능한 멀티 빔 스캐닝 (multi-beam) 스캐닝 (scanning) 전자 소스로 설계되었으며 기존 SEM의 해상도 한계를 초과하여 이미징 할 수 있습니다. 인상적인 이미징 모드 범위를 통해 연구원들은 백스캐터 이미징, 2 차 전자 이미징, 렌즈 내 이미징 등 여러 유형의 이미징 기술을 수행 할 수 있습니다. HITACHI S-6280 H는 또한 원소 분석을위한 Oxford Instruments Energy Dispersive Spectrometer 장비와 함께 정량 분석을 할 수 있습니다. S-6280H (S-6280H) 는 작동 용이성, 빠른 이미징, 강력한 연구 능력을 제공하도록 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경입니다. 고성능 (HPS) 기능과 고급 (Advanced) 기능을 통해 고급 마이크로소픽 이미징, 분석 측정, 요소 분석을 위한 이상적인 솔루션이 될 수 있습니다.