판매용 중고 HITACHI S-6200H #293811500

HITACHI S-6200H
ID: 293811500
웨이퍼 크기: 6"
Scanning Electron Microscope (SEM), 6".
HITACHI S-6200H는 고급 연구 연구를 위해 설계된 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 고급 이미징 기능과 샘플 특성 도구를 갖춘 다용도 장비입니다. 이 시스템은 x, y, z 방향으로 최대 0.1nm 해상도의 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 을 제공하며 진공 및 환경 조건에서 작업할 수 있습니다. S-6200H 는 사용자의 경험을 향상시키기 위해 설계된 다양한 기능을 제공합니다. 진공/대기 SEM (VP-I-V SEM) 기능의 가변 압력 이미징뿐만 아니라 가변 압력 SEM (VP-SEM) 기능이 있습니다. 또한 자동 초점, 자동 조리개, 자동 게인 및 자동 스티그메이터 안정화와 같은 편리한 자동 기능도 제공합니다. 또한, 이 장치에는 향상된 편의를 위해 향상된 감도 및 독립형 샘플 처리 암에 대한 초고속 진공 호환성이 포함되어 있습니다. HITACHI S-6200H에는 고급 EDS 머신이 장착되어 있으며, 원소 분석을위한 전용 EDX 분광계가 장착되어 있어 샘플 구조 및 조성에 대한 통찰력이 뛰어납니다. EDS 도구는 요소 매핑 및 다중 요소 분석 기능을 모두 수행할 수 있습니다. 수동 샘플 포지셔닝의 경우, S-6200H에는 정밀하고 쉬운 작동 및 샘플 이동 및 방향의 높은 정확성을 제공하는 6 축 전동 샘플 스테이지가 포함됩니다. 멀티빔 방향 제어 (multi-beam direction control), 자동 탐지기 선택 자산, 이미지 향상 소프트웨어 패키지 등의 광범위한 이미징 기능을 통해 최상의 화질을 쉽게 얻을 수 있습니다. 심층적 인 샘플 특성화가 필요한 사용자를 위해 HITACHI S-6200H는 EBSD (Electron Backscatter Diffraction), EDX (Energy Dispersive X-Ray) 및 NL (Cathodoluminescence) 의 고해상도 이미징과 같은 고급 분석 기술을 제공합니다. S-6200H 는 또한 시각화 툴, 이미지 융합 소프트웨어 등 다양한 이미지 처리/분석 소프트웨어 솔루션을 제공합니다. 또한, SEM 은 여러 개의 네트워킹 인터페이스와 고속 보안 모델을 통합하여 위치 간 안전한 데이터 전송을 지원합니다. 즉, 모든 위치에서 데이터를 쉽게 공유하고 동료와 공동 작업을 수행할 수 있습니다. HITACHI S-6200H (HITACHI S-6200H) 는 다양한 고급 기능을 갖춘 고급 스캐닝 전자 현미경으로, 다양한 연구 및 산업 응용 분야에 적합합니다. 고해상도 (High Resolution) 와 다양한 이미징 (Imaging) 및 분석 (Analysis) 기능을 사용자 친화적 소프트웨어와 다양한 네트워킹 옵션과 연계하여, 실험실과 현장의 연구에 이상적인 툴이 됩니다.
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