판매용 중고 HITACHI S-6200H #293799822

HITACHI S-6200H는 고전압 및 저전압 응용 프로그램 모두에서 샘플에 탁월한 이미징 및 분석 기능을 제공하도록 설계된 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 이 주사 전자 현미경은 최대 50 나노 미터 이미지의 매우 높은 해상도와 빠른 1msec 시간 상수를 갖는 렌즈 내 2 차 전자/백 스캐터 전자 검출기를 특징으로합니다. 고해상도 (high resolution) 와 초고속 (ultra-fast) 탐지기 (detector) 의 조합으로 이 스캐닝 전자 현미경은 고속, 고해상도 이미징 및 샘플 분석에 이상적입니다. S-6200H에는 다양한 샘플 유형, 모양, 크기를 수용하는 데 이상적인 대형 챔버가 있습니다. 자동 입구 살균 도어 (entry-side sterilization door) 는 이미징 프로세스 동안 챔버와 샘플이 깨끗하고 오염이 없도록 보장합니다. 현미경에는 모터화 단계 (Motorized Stage) 와 동력 표본 홀더 (Motorized Surmimen Holder) 가 장착되어 있어 샘플을 쉽게 이동하고 배치할 수 있습니다. 이 현미경에 내장 된 진단 장비는 진보적이고 포괄적입니다. DDU (Detector Drive Unit) 는 1kV까지 저전압 전자 빔을 사용하여 고감도 이미징을 수행 할 수 있습니다. DDU는 렌즈 내 SE 및 BSE 신호와 함께 SE 및 BSE 신호를 감지 할 수 있습니다. 또한 SE 및 BSE 검출기를 사용하여 다른 배율로 표본을 이미지화할 수 있습니다. "스캐닝 '전자 현미경 은" 시스템' 과 호환 되는 여러 가지 "액세서리 '를 이용 할 수 도 있다. VAC (Vacuum Action Controller) 는 원하는 압력에 도달하고 진공 환경을 제어하는 데 사용할 수 있습니다. HVDU (High Voltage Distribution Unit) 는 다양한 확대에서의 이미징을위한 다양한 고전압 작동 창을 제공하며 SHS (Simimen Heating System) 는 이미징 동안 샘플 온도를 유지할 수 있습니다. HITACHI S-6200H는 강력하고 다양한 스캐닝 전자 현미경으로, 고급 이미징 및 분석 기능을 제공합니다. 이 현미경 은 사용 하기 쉽고, 다양 한 표본 들 을 수용 할 수 있는 거대 한 "챔버 '를 가지고 있으며, 다양성 과 능력 을 향상 시킬 수 있는 여러 가지" 액세서리' 가 들어 있다. 고해상도, 고속 탐지기 시간, 다중 탐지 기능을 갖춘 S-6200H는 연구 및 산업 응용에 이상적인 스캐닝 전자 현미경입니다.