판매용 중고 HITACHI S-6200H #192284

HITACHI S-6200H는 현미경 물체를 연구하기위한 여러 이미징 기술을 통합 한 고급 Scanning Electron Microscope (SEM) 입니다. 하이엔드, 완전 자동화 SEM 은 탁월한 분석 기능과 높은 수준의 이미지 해상도를 제공합니다. 고도로 자동화 된 디자인과 다양한 고급 이미징 기능을 갖춘 S-6200H (S-6200H) 는 재료 과학, 나노 전자학, 생물학 및 의학 분야의 정확한 연구 응용 분야에 적합합니다. HITACHI S-6200H에는 샘플의 온도, 압력 및 습도를 적극적으로 모니터링하는 환경 관리 장비 (EMS) 가 있습니다. 또한, 분석 (analysis) 에 대한 최고 수준의 정확성을 보장하는 다양한 기능을 자랑합니다. 이러한 기능에는 다양한 샘플의 자동 및 동시 이미징을위한 듀얼 빔 시스템 (Dual Beam System, DBS) 이 장착 된 전자 총, 자동 빔 모양의 렌즈 최적화 및 다양한 다기능 컨트롤이 포함됩니다. S-6200H에는 TEM (Transmission Electron Microscopy) 모드를 가능하게하는 강력한 반도체 소스가 장착되어 있으며, 연구원은 나노미터 해상도의 샘플의 내부 3D 구조를 관찰 할 수 있습니다. 또한 고급 데이터 분석 장치 (Advanced Data Analysis Unit) 를 통해 다양한 분석 및 이미지 처리 기능을 제공합니다. 다용도 HITACHI S-6200H는 원소 매핑 (elemental mapping) 을 3D 재구성에 이르기까지 다양한 어플리케이션에 대한 정교한 결과를 제공하기 위해 장착되었습니다. S-6200H는 전자 광학의 최신 기술 발전을 통해 뛰어난 이미지 해상도를 제공합니다. 완전 자동화 된 광학 머신에는 다양한 두께 (thickness) 의 샘플을 분석하는 데 유리한 더 넓은 깊이 (field of field) 의 넓은 시야를 제공하는 존 플레이트 (zone plate) 및 동축 조명기가 통합되어 있습니다. 또한 HITACHI S-6200H (HITACHI S-6200H) 는 현미경 표본 보유자에 샘플을 도입하여 다양한 유형의 샘플을 쉽게 조작 할 수있는 통합 사전 단계를 갖추고 있습니다. 또한 S-6200H 는 완전하게 자동화된 샘플 탐색 툴을 제공하며, 이 툴을 사용하면 전체 관찰 분야에서 샘플을 빠르고 정확하게 트래버스할 수 있습니다. 내장형 Intelligent Motor 컨트롤은 빔이 최적의 이미징 성능을 위해 계속 초점을 맞추고 있음을 보장합니다. 또한, 저용량 이미징을위한 최적화 된 광학은 샘플 유도 전자기장의 효과를 최소화하여 안정적이고 반복 가능한 이미징 결과를 가능하게합니다. 전반적으로 HITACHI S-6200H (HITACHI S-6200H) 는 고급 스캐닝 전자 현미경으로, 다양한 샘플 유형을 조사하는 연구원의 요구에 맞춘 다양한 기능과 기술 향상을 자랑합니다. 재료 과학, 나노 전자학, 생물학 및 의학에 귀중한 도구입니다.