판매용 중고 HITACHI S-6100 #9144954

HITACHI S-6100 (HITACHI S-6100) 은 재료 및 구조물의 내부에 대한 고해상도 이미지를 제공하도록 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 전자 광학, 전자 빔, 검출기 및 X- 선 검출기를 사용하여 영상을 만듭니다. 또한, X/Y/Z 및 틸트 (tilt) 의 동력 조절이있는 샘플 스테이지가 있으며, 보다 나은 이미징을 위해 샘플의 정확한 조작 및 조정을 허용합니다. HITACHI S 6100의 주요 구성 요소에는 전자 총, 전자 렌즈, 전자 검출기 및 X- 선 검출기가 포함됩니다. 전자 총 은 "렌즈 '를 통하여 가속 되고 초점 을 맞추는 전자 를 공급 하여, 다른 배율 로" 이미지' 를 만들 수 있게 한다. 전자 탐지기 (Electron Detector) 를 사용하면 확대율 (Magnification) 을 나타내는 것과 함께 생성될 때 디스플레이에서 이미지를 볼 수 있습니다. X 선 검출기 (X-ray detector) 는 샘플의 X-ray 스펙트럼을 제공하여 원소 컨텐츠와 분포를 더 정밀하게 분석 할 수 있습니다. S-6100 은 고해상도, 3D 형태 이미지, 표면 특징, 내부 기능을 제공합니다. 이미징 기능은 보조 전자 이미징 (SEI) 및 역 분산 전자 이미징 (BEI) 모드로 더욱 향상되었습니다. SEI 를 사용하면 샘플의 서피스 뷰 (surface view) 를 볼 수 있고 BEI 를 사용하면 서피스 및 내부 피쳐를 볼 수 있습니다. S 6100은 또한 체계적인 스캔 영역, 스테레오 이미징, 틸팅 이미징 (tilted imaging) 또는 모자이크 (mosaicking) 와 같은 간단한 루틴을 수행하도록 사전 프로그래밍할 수있는 자동 단계를 가지고 있으며, 더 넓은 해상도의 더 큰 샘플 영역을 이미징할 수 있습니다. 또한, 기울기 단계 (tilt stage) 는 여러 각도 및 회전을 통해 기울일 수있는 기능으로 샘플을 더 크게 조정하고 조작할 수 있습니다. 마지막으로 HITACHI S-6100에는 X- 선 미세 분석, 전자 역 산란 회절 (EBSD) 및 자동 하이퍼 볼륨 매핑 (AHVM) 을 포함하는 고급 분석 제품군이 있습니다. 이를 통해 사용자는 서피스 지형뿐만 아니라 샘플의 내부 구조, 구성, 결정 학적 방향 (crystallographic orientation) 도 분석 할 수 있습니다. HITACHI S 6100은 고급 이미징 및 분석 기능을 제공하는 고성능 SEM입니다. 정교한 설계를 통해 해상도 향상, 이미지 처리 능력 향상, 분석 능력 향상, 샘플을 보다 자세히 분석 할 수 있습니다. 고급 이미징 (advanced imaging) 및 분석 (analysis) 기능을 활용하면 솔리드 소재에서 보다 자세한 정보를 추출하여 구조와 특성을 더 잘 이해할 수 있습니다.