판매용 중고 HITACHI S-6000 #293652751

HITACHI S-6000 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 일상적인 재료 분석에서 첨단 기술 개발에 이르는 다양한 애플리케이션을 위해 설계된 고성능 분석 도구입니다. 이 기기에는 고해상도 저전압, 최첨단 현장 방출 전자 소스 (state-of-the-art field emission electron source), 고급 이미징 시스템 (advanced imaging system), 향상된 해상도 및 명암비 및 다양한 분석 옵션을 제공하는 강력한 소프트웨어가 장착되어 있습니다. HITACHI S 6000 SEM은 XEDS (X-ray Energy Dispersive) 분광법, XRF (X-ray Fluorescence analysis) 및 비전도 및 전도성 표면 및 재료의 이미징 및 분석을위한 2 차 전자 이미징과 같은 혁신적인 분석 기술을 제공합니다. S-6000 은 정교한 이미지 처리 기능과 다양한 자동 측정 기능을 제공합니다. 고해상도 이미징을 사용하면 미세한 피쳐를 감지하고 높은 정확도로 치수 정보를 측정할 수 있습니다. 이 기기는 0.6nm (0.6nm) 까지 해상도를 높일 수 있으므로 고대비 (높은 명암비) 로 선명한 해상도를 유지할 수 있습니다. 또한 이미지를 최대 5,000배까지 확대할 수 있습니다. 즉, 매우 작은 객체를 보고 분석할 수 있습니다. 통합 소프트웨어 제품군에는 이미지 최적화, 시각화 및 분석을 위한 다양한 도구 (영문) 가 포함되어 있으며, 사용자가 재료를 신속하게 특성화하고, 기능을 찾고, 측정하고, 상세한 보고서를 작성할 수 있습니다. S 6000에는 2 차 전자, 백스캐터 및 X- 선 이미징 감지기 (X-ray imaging detector) 와 같은 다양한 검출기가 장착되어 있어 다양한 확대, 뛰어난 명암비 및 해상도를 제공합니다. 이 기기는 X- 선 원소 맵, 라인 스캔 및 X- 선 스펙트럼을 포함하여 다양한 유형의 X- 선 스펙트럼을 수집하도록 설정 될 수 있습니다. 이 이미징 (imaging) 과 분석 (analytical) 방법을 결합하면 미세한 수준에서 재료의 구성과 특성을 측정 할 수 있습니다. HITACHI S-6000 의 첨단 소프트웨어/자동화 기능을 사용하면 샘플 데이터를 효율적으로 분석 및 보고할 수 있습니다. 소프트웨어 제품군에는 입자 분석, 자동 피치 측정, 곡물 측정 분석, 필름 두께 측정 등 다양한 사용자 친화적 분석 도구가 포함되어 있습니다. 이 장치에는 여러 사용자가 데이터를 액세스, 저장, 검색할 수 있도록 하는 대용량 저장 장치 (Mass Storage Device) 가 장착되어 있어 공동 연구를 수행할 수 있습니다. 전반적으로 HITACHI S 6000 은 고성능 분석 SEM 으로, 다양한 연구 및 산업 애플리케이션에 적합합니다. 소프트웨어 툴과 자동화를 결합한 강력한 이미징 (imaging) 및 분석 (analysis) 기능을 통해 재료 특성화에 이상적인 툴이 될 수 있습니다. 이 기기는 고해상도 (High Resolution), 뛰어난 명암비 (Superior Contrast) 및 다양한 자동 측정 기능을 제공하여 샘플을 정확하게 분석하고 세부 보고서를 빠르고 효율적으로 생성할 수 있습니다.