판매용 중고 HITACHI S-570 #9247986

ID: 9247986
Scanning Electron Microscope (SEM) With PGT Energy Dispersive Spectrometer (EDS) XS169-S570 PGT Detector (BIAS - 800 V) 4000-C PGT Controller.
HITACHI S-570 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 높은 해상도로 다양한 표본을 시각화하고 분석하는 데 사용되는 최첨단 장비입니다. 이 스캐닝 전자 현미경은 뛰어난 이미지 품질, 고급 분석 기능, 손쉬운 작동을 제공하도록 설계되었습니다. HITACHI S 570은 SEI (Secondary Electron Imaging) 및 TEI (Transmission Electron Imaging) 를 사용하여 금속, 세라믹, 폴리머, 생물학적 재료, 반도체 등과 같은 샘플의 매우 상세한 이미지를 생성하는 탠덤 스캔 시스템입니다. S-570은 매우 효율적인 Optic 및 고대비 (High Contrast) 이미징 기능을 통해 뛰어난 이미지 해상도를 제공하여 다양한 어플리케이션을 지원합니다. 이 기구 는 고급 전자 탐지기 "시스템 '을 사용 하는데, 이" 시스템' 은 표본 을 정확 하게 검사 하기 위하여 디지털 으로 조절 되어 해상도 와 화질 을 증가 시킨다. S 570 스캔 범위 (scan range) 를 조정하여 다양한 애플리케이션의 이점을 활용할 수 있습니다. 또한 HITACHI S-570은 낮은 배율과 높은 배율 이미징을 2nm에서 5õm까지 제공합니다. HITACHI S 570 은 분석 툴, 이미지 처리 등 다양한 강력한 소프트웨어 애플리케이션과 편리하게 통합됩니다. 이 기능들은 함께 강력하고 신뢰할 수있는 스캐닝 전자 현미경을 더합니다. 환경 친화적인 저전력 소비량 (low power consumption) 은 기기의 가동 비용을 줄이고 에너지 효율에 기여하는 데 도움이 됩니다. 또한 S-570 은 유연성을 염두에 두고 설계되었으며, 다양한 실험실 환경에서 사용할 수 있게 되었습니다. 또한, 전동식 스테이지, 고해상도 줌 옵틱, 전동식 터렛, 빠른 샘플 교환을위한 모델 체인저 등 다양한 액세서리가 장착되어 있습니다. 사용자 지정 (User Customization) 기능을 통해 사용자는 정확한 요구 사항에 맞춘 기기를 생성할 수 있습니다. S 570은 사용하기 쉬운 스캐닝 전자 현미경으로, 다양한 용도에 적합합니다. 뛰어난 화질, 고급 기능, 사용자 친화적 운영 기능을 제공합니다. 광범위한 기능을 통해 쉽게 샘플 사용자 정의 및 데이터 분석을 수행할 수 있습니다. 이 모든 기능을 통해 HITACHI S-570은 빠르고 정확한 샘플 분석을 위한 안정적이고 강력한 현미경입니다.
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