판매용 중고 HITACHI S-5500 #9270956
URL이 복사되었습니다!
HITACHI S-5500은 다양한 샘플에 대한 뛰어난 이미징 및 분석을 제공하기 위해 설계된 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 이 장치에는 광시야각 (FOV, Wide Field of View) 광학 장비가 장착되어 있어 사용자가 다양한 배율과 넓은 심도를 얻을 수 있습니다. 통합 SEAD (Secondary Electron and Automated Data) 감지 시스템을 활용하며 다양한 표본에서 뛰어난 정확도로 고해상도 이미지를 생성 할 수 있습니다. 또한 HITACHI S 5500은 FEG (Field Emission Gun) 소스를 사용하여 사용자가 다른 EM 시스템보다 더 깊은 수준의 이미지 해상도를 얻을 수 있습니다. 이 장치에는 기본 (BIST) 측정 장치가 내장되어 있어 다양한 데이터 포인트 (data point) 를 제공하여 샘플을 매우 자세히 분석할 수 있습니다. 여기에는 표면 영역 크기, 입자 크기, 입자 모양, 텍스처 및 다공성과 같은 정보가 포함됩니다. 또한 대부분의 다른 SEM 시스템보다 훨씬 높은 해상도로 지형을 측정 할 수 있습니다. 이를 통해 사용자는 샘플의 구조에 대한 더 나은 통찰력을 얻을 수 있습니다. 이 기기는 디지털 비디오 프로세서로 제어되며 데이터 분석, 이미지 보기, 최적화 작업을 간소화하는 직관적인 GUI (touch-screen graphical user interface) 를 갖추고 있습니다. S-5500은 최대 1024 x 768 픽셀의 디스플레이 해상도로 디지털 실시간 이미지를 생성할 수 있습니다. 또한, 이 장치는 사용자가 샘플의 구성을 추가로 조사 할 수있는 원소 분석 데이터 (elemental analysis data) 를 생성 할 수 있습니다. 이를 통해 사용자는 샘플의 전력, 에너지, 광물 구성을 정확하게 평가할 수 있습니다. 이 장치에는 또한 고속 자동 샘플 (automated sample) 기계화 장치 (mechanization machine) 가 장착되어 있어 전자 열의 샘플을 신속하게 교환하고 오염을 없앨 수 있습니다. 또한이 도구는 3D 시각화를 얻기 위해 2 차 및 백 스캐터 전자 영상 (SSI/BSE) 이미지와 컴퓨터 단층 촬영 (CT) 영상을 생성 할 수 있습니다. 다용도 자산 (versatile asset) 은 사용자가 샘플에서 가장 상세한 정보를 얻을 수 있도록 필요한 기능과 기능을 갖추고 있습니다.
아직 리뷰가 없습니다