판매용 중고 HITACHI S-5500 #9194484
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판매
ID: 9194484
빈티지: 2009
Scanning electron microscope (SEM)
Secondary electron image resolution:
0.4 nm (30 kV, Sample height = 1.0 mm)
1.6 nm (1 kV, Sample height = 2.0 mm)
Accelerating voltage: 0.5 - 30kV
Magnification:
LM Mode: 60 - 10000x
HM Mode: 800 - 2000000x
Electron optics:
Electron gun: Cold cathode field emission electron source
Lens system: 3-Stage electromagnetic lens reduction system
Objective lens: Variable type
Stigmator coil: Octopole electromagnetic system
Scanning coil:
HM Mode: 2-Stage electromagnetic deflection
LM Mode: 1-Stage electromagnetic deflection
Beam blanking:
Electrostatic type: Synchronized with scanning coil
Electromagnetic type: Image freezing
Specimen stage:
Stage: Side-entry goniometer stage
Stage traverse:
X: ±3.5 mm
Y: ±2.0 mm
Z: ±0.3 mm
T: ±40°
Sample Size:
Bulk: 5.0 mm x 9.5 mm x 35 mmH (max)
Cross-section: 2.0 mm x 6.0 mm x 5.0 mmH (max)
Electrical image shift: ±5 ~m (Sample height=0 mm)
Detectors (Options):
Secondary electron detector
Upper backscattered electron detector
YAG Backscattered electron detector
BFIDF Duo-STEM detector
STEM Detector
Faraday cup
Energy dispersive X-ray detector
Display system
PC: Windows desktop PC
OS: Microsoft windows XP Professional
Monitor: 19 type LCD
Image display mode:
Full screen display: 1,280 x 960 pixels
Reduced area display: 640 x 480 pixels
Reduced area display: 320 x 240 pixels
Dual image display: 640 x 480 pixels x 2
Evacuation system
Auto evacuation:
Fully automatic pneumatic valve
Control system
Ultimate vacuum:
Electron gun chamber: <1 x 10^7 Pa
Specimen chamber: <7 x 10^5 Pa
Vacuum pumps:
Ion pump: 70 l/s x 1
Ion pump: 30 l/s x 1
Turbo molecular pump: 260 l/s x 1
Scroll type dry pump: x 1
Utility requirements:
Room temperature: 15 ~ 25°C
Humidity: 60% RH or less
Power: Single phase, ACIOO-240V ±10%, 4 kVA
Grounding: 100 ohms or less
Cooling water:
Flow: 0.6 - 1.0 l/min
Pressure: 50 - 100 kPa
Temperature: 10 - 20°C
Supply faucet: Rc 3/8 tapered female thread x 1
Drain port:
20 mm Diameter
Natural drain located on floor
2009 vintage.
HITACHI S-5500 Scanning Electron Microscope는 고해상도 이미징 및 분석을 위해 설계된 최첨단 SEM입니다. 첨단 기능을 통해 생명과학, 재료과학, 환경분석 등 다양한 영상분석 (Imaging and Analysis) 에 이상적인 옵션이 될 수 있습니다. HITACHI S 5500에는 2 차 및 후면 분산 전자 검출기와 4 개의 전자 진입 포트가 장착 된 하이브리드 스캔 장비가 있습니다. 또한 가변 압력 챔버를 갖춘 최첨단 전자 광학 시스템 (state-of-the-art electron optical system) 을 통해 진공에서 높은 공기 압력까지 작동 할 수 있습니다. 광학 장치는 수차를 최소화하도록 설계되어 2 차 전자 영상에서 고성능 5 nm 해상도, 백스캐터 영상에서 3 nm 해상도를 제공합니다. S-5500은 소프트 재료의 생물학적, 고해상도 이미징의 관찰 및 분석에 최적화되었습니다. 현미경의 환경 챔버 (environmental chamber) 는 세포 배양의 관찰에 특히 유용하며, 섬세한 물질의 관찰, 저조도 영상 (low contrast imaging), 건조 지수 (drying indice), 가변 압력 영상 (variable pressure imaging) 과 같은 다양한 스캔 모드에서 섬세한 물질을 관찰할 수 있습니다. S 5500에는 온보드 이온 블라스팅/증착기가 포함되어 있으며, 이는 정확한 샘플 준비 및 관찰에 사용될 수 있습니다. 이 도구는 표면에 재료를 배치하는 기능을 통해 선명하고 세밀하게 (sharp) 고정밀도 이미징 결과를 생성할 수 있습니다. HITACHI S-5500에서는 고유한 STED 이미징 기능을 사용하여 몰입 형 3D 현미경도 가능합니다. 이를 통해 단일 분자 형광 이미징, 나노 크기 이미징 및 3 차원 단층 촬영과 같은 다양한 이미징 기술이 가능합니다. HITACHI S 5500은 또한 통합 EBSD 검출기를 사용하여 고품질 스캐닝 전자 회절 패턴을 생성 할 수 있습니다. 그러면 결과 패턴을 사용하여 결정 구조를 해결하고 탄성 계수 (elastic modulus), 상대 경도 (relative hardness) 및 결함 농도 (defect concentration) 와 같은 특성을 예측할 수 있습니다. 따라서 S-5500은 나노 구조 및 재료 특성 분석을위한 이상적인 도구입니다. S 5500은 또한 소음이 적은 선명하고 고해상도 이미지를 제작할 수있는 와이드 필드 이미징 (wide-field imaging) 자산을 갖추고 있습니다. 이것 은 "디테일 '이 극히 중요 한 큰 표본 을 관찰 하는 데 이상적 인 선택 이다. 전반적으로 HITACHI S-5500 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 은 현미경 기술의 기능과 응용 분야를 크게 확장하여 원자 수준에서 샘플을 분석 할 수 있습니다. 성능 향상 기능 (Performance Enhancing Features) 의 독특한 조합은 많은 과학 및 산업 분야에 이상적인 선택입니다.
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