판매용 중고 HITACHI S-5500 #9188834

HITACHI S-5500 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 다양한 유형의 과학 연구를 위해 설계된 다재다능하고 강력한 도구입니다. FES (Field Emission Source) 와 고감도 검출기를 결합하여 탁월한 이미징 성능을 제공합니다. HITACHI S 5500은 이전 모델보다 더 큰 샘플 챔버 (sample chamber) 를 제공하여 더 긴 기간 동안 더 많은 표본을 처리 및 검사 할 수 있습니다. S-5500 의 경량 설계와 광학적으로 정확한 검출기 (optically accurate detector) 는 뛰어난 화질과 해상도를 제공하여 선명하고 상세한 이미지를 생성할 수 있습니다. 이 기구 는 또한, 기존의 광학 현미경 보다 더 깊이 있는 "이미지 '를 생산 할 수 있다. FES 전자원은 필드 방출 (field emission) 기술을 사용하여 샘플 챔버 내부에서 높은 진공을 생성하여 산란이 적고 가속 전압 안정성이 향상됩니다. S 5500에는 또한 고급 디지털 이미징 시스템 (Advanced Digital Imaging System) 이 장착되어 있어 사용자가 이미지를 조작하고 분석할 수 있습니다. 여기에는 팬 및 확대/축소 도구, 확대/축소 측정, 대비 및 명도 조정, 히스토그램 측정 등의 기능이 포함됩니다. 또한, 다른 지원 시스템 (현장/원격) 과 쉽게 이미지를 저장하고 공유할 수 있습니다. HITACHI S-5500은 야금, 유기 금속 화학, 반도체 고장 분석, 재료 구조 검사와 같은 연구 작업에 적합합니다. 이 제품은 SEM 이미징 기능을 최대한 활용하고자 하는 모든 고객에게 저렴한 솔루션을 제공합니다. 설계는 모든 규모의 실험실에 이상적이며, 고품질 이미지를 빠르고 쉽게 얻을 수 있게 해 주는 한편, 운영 비용 (Operating Cost) 과 계기 가동 중지 시간 (Instrument Downtime) 을 모두 줄일 수 있습니다. 전반적으로 HITACHI S 5500 Scanning Electron Microscope 는 강력하고 다양한 SEM 을 필요로 하는 모든 고객에게 탁월한 선택입니다. 이 기기는 현장 방출 소스 (Field Emission Source), 고감도 검출기 (High Sensitivity Detector) 및 고급 디지털 이미징 시스템 (Advanced Digital Imaging System) 을 결합하여 다양한 샘플 유형에 걸쳐 고품질의 세부 이미지를 제공합니다. 또한, 사용 편의성과 운영 비용이 적어 모든 실험실에 이상적인 선택이 됩니다.