판매용 중고 HITACHI S-5500 #293589666

HITACHI S-5500
ID: 293589666
빈티지: 2006
Scanning Electron Microscopes (SEM) 2006 vintage.
HITACHI S-5500은 다양한 재료 과학 응용 분야를 위해 설계된 전용 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 고속 2 차 전자 검출기, 이중 백스캐터 검출기, 연구원들이 고해상도 이미지를 캡처 할 수있는 새로운 자동 초점 장비를 갖추고 있습니다. HITACHI S 5500의 고속 2 차 전자 탐지기는 고해상도 1nm에서 고속 스캔 이미지를 생성 할 수 있습니다. 이를 통해 연구원들은 곡물 경계, 면, 기타 표면 특징과 같은 샘플에서 미세한 세부 사항을 시각화 할 수 있습니다. 2 차 전자 검출기는 표준 검출기에 비해 시스템의 감도를 최대 1000 배 증가시킵니다. S-5500에는 2 차 및 백 스캐터 전자를 동시에 캡처 할 수있는 이중 백스캐터 검출기가 있습니다. 이를 통해 사용자는 샘플에서 구성 데이터를 생성하고 표본의 물리적 (physical) 및 화학적 (chemical) 특성을 관찰 할 수 있습니다. 백스캐터 탐지기 (backscatter detector) 에는 에너지 필터링 장치 (energy-filtering unit) 가 장착되어 있어 샘플의 원소 조성에 대한 자세한 정보를 얻을 수 있습니다. S 5500에는 새로운 자동 초점 기계도 장착되었습니다. 이 도구는 발생하는 모든 초점 (focusing) 문제를 자동으로 수정하여 이미지의 선명도와 선명도를 유지하는 데 도움이 됩니다. 이 자산은 토양, 분말 등 고르지 않은 표면을 가진 표본을 스캔하는 데 특히 유용합니다. 마지막으로 HITACHI S-5500은 향상된 관측 모드를 자랑합니다. 새로 개발된 기능에는 자동 이미지 안정화 모델과 소음 감소 장비가 포함됩니다. 이러한 기술은 노이즈 레벨 (noise level) 을 줄이고 이미지의 밝기와 대비를 최적화하여 이미지의 정확도를 향상시키는 데 도움이 됩니다. HITACHI S 5500은 많은 재료 과학 응용 분야에 적합한 다양한 SEM (Scanning Electron Microscope) 시스템입니다. 고속 2 차 전자 검출기, 이중 백스캐터 검출기, 새로운 자동 초점 장치 및 향상된 관측 모드가 특징입니다. 이 모든 기능은 S-5500 을 강력한 이미징 툴로 만들며, 이를 통해 다양한 물질의 물리적, 화학적 특성에 대한 자세한 정보를 제공할 수 있습니다 (영문).
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