판매용 중고 HITACHI S-5200 #9359029

HITACHI S-5200은 효율적이고 정확한 이미징 기능을 제공하도록 설계된 SEM (Scanning Electron Microscope) 으로, 연구자와 엔지니어가 다양한 샘플을 빠르게 보고 분석 할 수 있습니다. 이 장비는 재료 과학, 반도체 연구, 생의학 공학 등 다양한 분야에서 활용할 수 있습니다. HITACHI S 5200은 InLens SE (secondary electron) 검출기 시스템에서 실행되며, 다양한 작업에서 고품질 이미지를 생성 할 수 있습니다. 이 감지 장치는 다양한 어플리케이션에 대한 고해상도 (high resolution) 와 동적 범위 (dynamic range) 를 제공합니다. 이 SEM에는 또한 "칩 스팟 (chip spot)" 기능이 장착되어 있으며, 운영자는 샘플의 특정 영역에서 이미징을 빠르게 시작할 수 있습니다. S-5200 은 강력한 이미징 기능 외에도 다양한 애플리케이션에 사용할 수 있는 일련의 오브젝티브 렌즈 (objective lens) 를 제공합니다. 이러 한 "렌즈 '는 높은 배율 을 갖추고 있으며 크기 가 다양 한 각기 다른" 샘플' 로 효과적 으로 작동 할 수 있다. 또한, S 5200에는 디지털 터치 스크린 인터페이스, 자동 스테이지 제어, 다중 디스플레이 창, 이미지 저장 기능 등의 기능이 있습니다. HITACHI S-5200 의 옵티컬 머신 (optical machine) 은 밝고 어두운 광학 테크닉의 조합을 활용하며, 이는 사용자에게 뛰어난 제어 및 유연성을 제공합니다. 그러나 이 SEM은 이미징 기능에만 국한되지 않습니다. 또한 사용자는 명암과 밝기를 조정하고, 확대/축소하고, 색상이나 기타 기능을 향상시키며, 텍스트나 기타 주석을 이미지에 추가할 수 있습니다. HITACHI S 5200은 Macros (x3-5k) 에서 nano (x5-50k) 이상까지 다양한 수준의 샘플을 분석 할 수 있습니다. 이 도구에서 제공하는 최대 배율은 2,000,000x입니다. 또한, 이 자산은 물질적 손실 및 오염을 방지하는 데 이상적인 다양한 진공 기능을 제공합니다. S-5200 은 모든 사용자 (sample-examination) 의 요구 사항을 최대한 충족하도록 설계된 강력하고 인상적인 툴입니다. 고급 이미징 기능, 디스플레이 창, 마이크로그래프 설정 (micrograph settings), 확대/축소 기능 (zoom features) 에 이르기까지 연산자는 샘플을 최대한 활용할 수 있습니다. 또한, S 5200 은 스캐닝 프로브 현미경 (scanning probe microscope) 과 같은 다른 장비와 함께 사용할 수 있으므로, 운영자는 샘플에서 더 많은 데이터와 이미지를 얻을 수 있습니다.