판매용 중고 HITACHI S-5200 #9309409

HITACHI S-5200
ID: 9309409
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
HITACHI S-5200 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 은 반도체 및 기타 재료의 물리적 및 전기적 특성을 분석하기 위해 설계된 고해상도 이미징 기기입니다. 고급 현장 방출 기술과 일반 스테이지 영역보다 더 큰 이 모델은 특히 고장 분석, 3D X-ray 이미징, 결함 검사에 적합합니다. HITACHI S 5200은 다양한 기판 및 샘플 크기를 수용하기 위해 다양한 온도 및 방진 (dust-proof) 조건에서 작업 할 수 있습니다. 고속 스캐닝 (scanning) 및 5KV-30KV 가변 가속 전압과 결합 된 우수한 해상도로 나노 미터 척도까지 샘플의 빠른 특성 및 분석에 적합합니다. S-5200은 형태, 구성 및 분포 패턴과 같은 샘플 특성을 결정하는 필수 도구입니다. 대조 (contrast) 및 해상도 (resolution enhancement) 를 향상시키는 다양한 내장 모드를 통해 샘플의 물리적, 전기적 특성에 대한 정보를 표시하는 치수적으로 정확한 이미지와 스펙트럼을 캡처할 수 있습니다. S 5200에는 HDS (Hybrid Detector System) 가 장착되어 있어 사용자가 이미지 밝기와 명암을 전례 없이 제어할 수 있습니다. 또한 실험을 계획하고 실행하기 위한 전용 소프트웨어 (software for planning and executing experiment) 를 제공합니다. 따라서 사용자는 수작업 없이 최적의 성능을 위해 실험의 매개변수를 조정할 수 있습니다. HITACHI S-5200에는 광학 현미경 외에도 IEA (Image Education and Analysis) 프로그램도 포함되어 있어 데이터 캡처 및 분석을 용이하게 합니다. 조정 가능한 해상도 (resolution) 와 민감도 (sensitivity) 설정을 통해 사용자는 샘플의 다양한 기능을 파악하고 이미지에 일관된 정확한 정밀도로 정량화할 수 있습니다. HITACHI S 5200 은 다양한 자동 기능을 지원하여 이미지 구입 및 처리를 더욱 용이하게 합니다. 여기에는 자동 중심, 자동 스티칭 및 자동 초점이 포함됩니다. 또한, 고해상도 (High-Resolution) 기능과 쌍을 이루는 넓은 시야 (Field Of View) 를 통해 표본의 넓은 영역을 명확하고 세부적으로 이미지화할 수 있습니다. 전반적으로, S-5200 주사 전자 현미경은 정확성과 정밀도로 다양한 샘플을 특성화하고 분석하기위한 강력한 도구입니다. 다용도 기능과 고강도 이미징 기능을 통해 예제의 나노스케일 (Nanoscale) 세부 정보를 직접 탐색할 수 있습니다.
아직 리뷰가 없습니다