판매용 중고 HITACHI S-5200 #9236135
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ID: 9236135
빈티지: 2003
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Resolution:
0.5nm (Accelerating voltage 30kV), Sample height: 0.5mm
1.8nm (Accelerating voltage 1kV), Sample height: 1.5mm
Magnification:
High magnification mode: ~800 x 2,000,000
Low magnification mode: ~60 x 10,000
Electric gun type: Cold cathode field emission electric gun
Extraction voltage (Vext): 0 ~ 6.5kV
Acceleration voltage: 0.5 ~ 30kV
Lens: 3-Stage electromagnetic lens reduction system
Objective lens aperture: Variable aperture
Astigmatic correction: Electromagnetic method
Scanning coil: 2-Stage electromagnetic deflection system
Sample fine movement apparatus:
X: +/- 3.5mm
Y: +/- 2mm
Z: +/- 0.3mm
T: +/- 40°
2003 vintage.
HITACHI S-5200 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 원자 또는 나노 미터 스케일에서 표본 표면을 이미징하기위한 강력한 이미징 도구입니다. 이 현미경은 고해상도 이미징 (high resolution imaging) 과 빠른 획득 속도 (fast acquisition rate) 를 결합하여 광범위한 연구 애플리케이션에 이상적입니다. 그것의 1 차 영상 기술은 스캐닝 전자 빔 (scanning electron beam) 을 사용하고 샘플에서 방출 된 2 차 전자를 수집하여 이미지를 형성합니다. 최대 30 kV의 가속 전압으로 2 차 전자를 수집 할 수 있으며, 최대 10 nm의 미세 표면 특징을 관찰 할 수 있습니다. HITACHI S 5200은 건조 또는 습식 조건에서 생물학적, 무기 샘플을 포함한 다양한 샘플을 이미징 할 수 있습니다. 이 장비에는 가벼운 요소 감지 및 ptychographic 이미징 기능과 벌크 샘플을위한 내장 이온 빔 밀링 기능도 포함됩니다. 그래픽 사용자 인터페이스를 갖춘 직관적인 제어 시스템이 있습니다. 최대 xx, xxx의 확대와 0.1nm 이상의 해상도를 달성 할 수 있습니다. 표본 을 분석 하는 데 도움 이 되는 여러 단계, "고니오미터 '및 환경 세포 와 같은" 액세서리' 도 있다. 이 장치에는 EDS (energy-dispersive X-ray spectroscopy) 검출기가 내장되어 있어 샘플에서 요소 분포를 분석 할 수 있습니다. EDS 검출기에서 수집 한 이미지는 전자 이미지와 결합하여 결합 된 원소 분포 맵을 생성합니다. 이 기능을 통해 S-5200은 재료 과학, 나노 기술 등 분야의 이미징 애플리케이션에 적합합니다. 또한 S 5200에는 내장형 디지털 비디오 출력 기능이 내장되어 있어 외부 모니터에서 라이브 또는 캡처된 이미지를 볼 수 있습니다. 이 기능은 많은 사람들과 이미지를 공유할 때 유용합니다. 소프트웨어를 사용하면 쉽게 샘플을 이미지, 분석할 수 있습니다. 실시간 처리 및 측정과 같은 기능이 포함되어 있습니다. 결론적으로 HITACHI S-5200 Scanning Electron Microscope는 나노미터 스케일에서 비교할 수없는 이미징 기능을 제공합니다. 광범위한 리서치 애플리케이션 (Research Application) 에 유용하며, 자동화되고 사용자에게 친숙한 다양한 기능을 갖추고 있습니다. 이 기계는 이미징 (Imaging) 기능과 분석 (Analytical) 기능이 결합되어 오늘날 시장에서 가장 강력한 기기 중 하나입니다.
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