판매용 중고 HITACHI S-5200 #9083667

HITACHI S-5200은 세부적인 미세 구조의 특성화가 가능하도록 설계된 고성능 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 뛰어난 로우 빔 (low-beam) 이미징 기능을 제공하여 연구원들이 높은 해상도와 대비를 통해 높은 배율로 이미지를 얻을 수 있습니다. 현미경은 0.5 nm까지 해상도를 낮출 수 있으며, 미세 구조 적 세부 사항이 밝혀져 나노 스케일 구조의 특성화가 가능하다. HITACHI S 5200에는 VP (Variable Pressure) 모드가 장착되어 있어 대기 가까이에서 낮은 진공 (4.5 Pa까지) 까지 다양한 압력 설정에서 이미징을 수행할 수 있습니다. 이를 통해 비 전도성 표본의 이미징 (Imaging) 과 더 다양한 샘플 크기를 볼 수 있습니다. 또한, VP 모드는 또한 비 전도성 샘플의 향상된 이미징을 위해 LVOCC (Low Vacuum Occluded Carbon Coating) 와 같은 대체 기술을 사용할 수 있습니다. S-5200 은 자동화를 통해 자동으로 샘플링 로드, 언로드, 자동 이미지 선택 등을 수행할 수 있습니다. 이를 통해 연구원은 SEM 이미지를 신속하게 수집하고, 긴 설정 시간과 수작업 (manual intervention) 을 필요로 하지 않습니다. 또한, 자동화된 장비 (automated equipment) 를 사용하면 결과를 반복하기 위해 동일한 샘플에 대한 실험을 쉽게 반복 할 수 있습니다. S 5200에는 요소 분석을 위해 EDX 시스템이 장착되어 있습니다. 이 장치는 전자 빔 내에서 생성 된 X- 레이를 사용하여 샘플에 존재하는 요소를 감지합니다. 이를 통해 연구원들은 샘플의 정성 및 정량 분석을 수행 할 수 있습니다. 샘플 내 원소 분포에 대한 자세한 내용은 EDX 머신 (EDX machine) 을 사용하여 추출 할 수 있으며, 이를 통해 연구자들은 샘플의 내부 미세 구조 기능에 대한 통찰력을 얻을 수 있습니다. 전반적으로, HITACHI S-5200은 강력한 스캐닝 전자 현미경으로, 전통적인 이미징 시스템과 비교하여 뛰어난 해상도와 대비를 제공합니다. 다양성과 자동화를 통해 사용자는 신속하게 데이터를 수집, 분석할 수 있으며, EDX 툴은 상세한 요소 분석 (elemental analysis) 기능을 제공합니다. 나노 스케일 소재를 특성화하려는 연구원들에게 귀중한 도구입니다.