판매용 중고 HITACHI S-5200 #293811292

HITACHI S-5200 주사 전자 현미경 (SEM) 은 뛰어난 수준의 디테일로 고해상도 이미지를 생산하도록 설계된 최첨단 실험실 장비입니다. HITACHI S 5200은 표준 SEM (Field Emission SEM) 의 기능과 FESEM (Field Emission SEM) 의 이점을 결합한 독특한 듀얼 빔 장비를 갖추고 있으며, 이를 통해 자체 상태에서 표본을 검사할 수 있습니다. 고정밀 웨이퍼 스테이지, 저진공 챔버, 자동 웨이퍼 처리 시스템이 장착되어 있습니다. S-5200에는 최대 2.5 나노미터 해상도의 이미지를 캡처하는 디지털 이미지 처리 장치 (Digital Image Processing Unit) 가 있어 마이크로 사이즈 개체 및 나노 스케일 기능을 분석 할 수 있습니다. 현미경은 초당 최대 3.5 프레임 (3.5 프레임) 의 속도로 스캔할 수 있으며, 전례없는 선명도로 매우 작은 기능을 이미징 할 수있는 강력한 도구입니다. 또한 특허를받은 2 차 전자 필터를 갖추고 있으며, 이미지 노이즈를 줄여 비교할 수없는 이미지 선명도를 제공합니다. 현미경은 매우 민감한 이중 lz 형 검출기 인 SEM 마이크로 프로브를 사용합니다. 이 검출기는 입자 직경이 1 나노 미터 (1 나노 미터) 만큼 작을 때 고해상도 영상을 가능하게 하며, 표본의 재료 특성을 분석 할 때 더 많은 정확도를 허용합니다. S 5200 은 안정적이고 내구성이 뛰어난 장비로, 다양한 기능과 뛰어난 이미징 성능을 제공합니다. 정교한 컨트롤은 작동이 쉬우며, 잘 만들어진 디자인은 최고의 성능을 보장합니다. 고급 X- 선 탐지기는 X-ray 신호를 탐지하여 샘플의 원소 조성을 분석 할 수 있습니다. 또한 HITACHI S-5200은 경제적인 옵션으로 설계되었습니다. 시동 비용과 운영 비용을 최소화하고, 뛰어난 성능과 품질을 제공해야 합니다. 이는 엄격한 예산으로 연구 실험실과 대학에 적합한 선택입니다. 전반적으로, HITACHI S 5200 스캐닝 전자 현미경은 인상적인 실험실 기술로, 저렴한 가격으로 탁월한 이미징 성능과 신뢰성을 제공합니다. 이중선 도구 (Dual-Beam Tool) 와 자동화된 웨이퍼 처리 (Automated Wafer Handling) 기능을 통해 지정된 입자 또는 물체를 분석 할 때 상세한 고해상도 이미지와 비교할 수없는 정확성을 찾는 연구원들에게 이상적인 선택이 가능합니다.