판매용 중고 HITACHI S-5200 #293761860

HITACHI S-5200은 광범위한 검사를 위해 설계된 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 현미경은 금속 연구, 표면 분석 및 재료 테스트에 이상적입니다. 일반 응용 프로그램과 특수 응용 프로그램 모두에 높은 성능을 제공합니다. 팬 SEM (PAN-SEM) 산업 프로토콜은 밝고 각진 (angled) 기둥과 높은 정밀도로 샘플 정렬 및 제어를 제공하는 범용 단계를 자랑합니다. 수직 지향 챔버를 갖춘 고급 디자인은 샘플 시스템의 경로 길이를 최소화하여 나노 미터 스케일 샘플을 이미징 (imaging) 하는 데 이상적입니다. 고해상도 이미징은 20kV 전자원과 고해상도 이미지 검출기로 이루어집니다. HITACHI S 5200은 재료 분석에 있어 매우 높은 수준의 정확성을 제공합니다. 이 제품은 다양한 초고해상도 검출기 (ultra-high resolution detector) 와 자동 측정 시스템 (automatic measurement system) 을 사용하여 샘플을 정확하게 스캔합니다. FED (Field Emission Detector) 와 DEMUX (Detector-Extension Magnification Unit) 가 장착되어 이미지를 확대하고 나노미터 스케일까지 매우 작은 세부 사항을 보여줍니다. S-5200은 또한 샘플 표면의 동적 관찰을 위해 고감도 이미징 및 라이브 이미징을 제공합니다. 낮은 드리프트 디자인은 바쁜 실험실에서도 안정적이고 매우 정확한 결과를 보장합니다. 나노 미터 척도에서 원소 조성의 검출 및 정량화를 개선하는 단색 에너지 분산 X- 선 검출기 (monochromatic energy distersive X-ray detector) 가 장착되어 있습니다. S 5200 은 사용자에게 친숙한 소프트웨어를 제공하므로 다양한 데이터 디스플레이 (display) 형식을 탐색할 수 있습니다. 디지털 이미지 처리 (digital image processing), 매핑 (mapping) 및 여러 이미지를 빠르게 연속으로 촬영할 수 있는 기능과 같은 기능을 통해 사용자 정의 분석과 그에 따른 재현 가능한 결과를 얻을 수 있습니다. 안전성을 보장하기 위해 HITACHI S-5200은 자동 부식 가스 대피 시스템 (Automated Corrosive Gas Evacuation System) 과 내장 기판 온도 제어 장치 (BIST) 와 관측 실에서 샘플을 안전하게 제거하는 자동 샘플 후퇴 장치 (Automated Sample Retraction unit) 로 제작되었습니다. HITACHI S 5200은 재료 연구자에게 광범위한 기능을 제공하여, 소재를 정량적으로 분석, 식별, 특성화하는 강력한 도구를 제공합니다.