판매용 중고 HITACHI S-5200 #293608981

HITACHI S-5200은 뛰어난 해상도의 다양한 조건에서 샘플 표면을 관찰하도록 설계된 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. HITACHI S 5200은 다양한 탐지기 (detector) 를 활용하여 다양한 스캐닝 기능을 제공하여 연구원들이 샘플의 표면 구조에 대한 정확한 정보를 얻을 수 있습니다. 현미경에는 주사 전자 원 (scanning electron source) 이 장착되어 최대 15 keV의 전자를 생산할 수 있습니다. 또한 SEM에는 다양한 유형의 탐지기 (detector) 가 장착되어 있으며, 이는 2 차 전자 영상 및 역 산란 전자 영상을 포함한 다양한 유형의 영상을 허용합니다. 또한, 현미경에는 강력한 컴퓨터 제어 시스템 (computer control system) 이 있으며, 이를 통해 정확한 스캐닝과 정확한 샘플 포지셔닝을위한 자동 샘플러가 제공됩니다. S-5200은 X-Ray 미세 분석, 전자 역 산란 회절 (EBSD), 에너지 분산 엑스선 분광법 (EDS) 및 광전자 분광법 (PES) 을 포함한 다양한 샘플 표면 분석을위한 기술을 갖추고 있습니다. 이러 한 기술 을 사용 하여, 연구가 들 은 "샘플 '의 원소 성분 을 식별 하고, 재료 의 구조 와 특성 에 대한 통찰력 을 얻을 수 있다. 또한, 현미경은 나노 미터 이하의 해상도에서 영상을 촬영할 수 있으며, 이는 원자 스케일 기능의 명확한 시각화를 가능하게한다. S 5200 (S 5200) 은 샘플을 관찰 할 수있는 다양한 제어 환경을 제공하기 위해 가변 온도 (variable temperature) 및 가변 압력 제어 (variable pressure control) 와 같은 고급 기능의 배열을 포함합니다. 또한, 현미경은 빔 스팟 제어 (beam spot control) 를 사용하여 전자 빔의 스팟 크기를 조정하여 정확한 이미징 및 데이터 분석 기능을 제공 할 수 있습니다. 결론적으로, HITACHI S-5200은 매우 강력한 스캐닝 전자 현미경으로, 다양한 표면 분석 작업을 위해 설계되었습니다. 연구자들은 현미경의 강력한 스캐닝 (scanning) 및 이미징 (imaging) 시스템을 활용하여 다양한 샘플의 원소 구성과 구조에 대한 정확한 정보를 얻을 수 있습니다. 현미경은 또한 잘 설계된 제어 시스템 (Control System) 을 갖추고 있으며, 정확한 샘플 포지셔닝과 다양한 조건과 컨트롤을 통해 보다 자세한 조사를 할 수 있습니다.