판매용 중고 HITACHI S-520 #9080001

HITACHI S-520 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 은 나노 스케일 (nanoscale) 의 물질을 이미징 및 분석하기 위해 많은 과학 분야에서 사용되는 강력한 분석 도구입니다. 빔 에너지와 해상도가 각각 최대 30 kV 및 3 nm 인 경우, 이 현미경은 매우 상세한 이미징을 달성 할 수 있습니다. S-520 (S-520) 은 표준 가속 전압 0 - 30 kV를 특징으로하며 일련의 렌즈에 의해 가속되고 집중되는 전자 빔을 사용하여 고해상도, 고대비 이미지를 생성 할 수 있습니다. 이러한 빔은 샘플을 다른 각도로, 다른 수준의 줌 (zoom) 으로 조사하여 정확한 시각화를 가능하게합니다. 현미경은 3 나노 미터의 측면 해상도로 계획 뷰에서 샘플 표면 에피 택시 피쳐의 2 차원 이미지를 생성 할 수있다. 이미징 외에도, 현미경은 원소 조성을 매핑하기 위해 에너지 분산 분광학 (EDS) 시스템을 갖는 반 도체 샘플을 검사하는 데 사용될 수있다. 현미경 프레임은 진동에서 분리 된 강화 된 프레임에 단단히 장착 된 고 인장 알루민화 된 철로 구성된다. 전체 기구 는 최적 의 진동 을 보호 하기 위해 "스테인레스 '강" 캐비닛' 으로 둘러싸여 있으며, 그것 은 분주 한 실험실 에 사용 하기 에 이상적 이다. 전자 빔을 제어하는 작업은 컬러 (color) 컴퓨터화된 터치패드 디스플레이 (computerized touchpad display) 에서 이루어집니다. HITACHI S-520에는 사용자 편의성을 극대화하는 여러 기능이 포함되어 있습니다. 디지털 카메라는 현미경 (microscope) 에 연결하여 실시간으로 볼 수 있으며, USB 포트는 외부 장치로 데이터를 전송하여 컴퓨터 (external device) 에 대한 추가 분석을 쉽게 할 수 있습니다. 또한, 현미경에는 수동으로 컨트롤을 조정하지 않고도 정밀한 빔 정렬을위한 프로그래밍 가능한 조이스틱 (joystick) 이 있습니다. S-520 스캐닝 전자 현미경은 나노 스케일 (nanoscale) 에서 재료의 시각화 및 분석을위한 강력한 도구입니다. 첨단 기능, 정밀 제어 (precision control), 고해상도 (high resolution) 를 통해 다양한 과학 분야에 적합합니다.