판매용 중고 HITACHI S-520 #293765841

HITACHI S-520은 현미경 구조와 그 상호 작용에 대한 정확하고 정확한 연구를 수행하도록 설계된 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 장치는 나노 내성 물질 현상에 대한 자세한 검사를 위해 특별히 설계되었습니다. S-520 은 HITACHI 의 차세대 SEM 제품군의 최신 모델입니다. HITACHI S-520은 고급 에너지 분산 X-Ray 검출기와 고해상도 백스페터 전자 검출기를 통합하여 고대비 이미징을 지원합니다. 새로운 광학 장비는 초고해상도 이미징 (Ultra High Resolution Imaging) 을 제공하여 보다 정밀도 높은 소형 피쳐의 표면 분석을 지원합니다. 이 초고해상도는 S-520이 작은 분자 거리를 측정하고 나노 스케일 (nanoscale) 특징을 식별하는 등 나노 스코픽 연구에 독특하게 적합합니다. 이 장치에는 고성능 진공 챔버 (vacuum chamber) 가 장착되어 있어 기류의 영향을 최소화하고 표본을 더 세밀하게 조작할 수 있습니다. 표본 의 거리 는 정확 하게 조정 되어, 오염 될 위험성 없이 정확 한 영상 과 분석 을 할 수 있다. 진공실에는 열 안정성 개선을위한 새로운 냉각 장치가 장착되어 있습니다. HITACHI S-520은 빠른 샘플 로더, 다양한 작동 조건, 초저방향 방사선 이미징을위한 이산화셀레늄 (selenium dioxide) 검출기, 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 등 다양한 사용자 친화적 기능을 제공합니다. 또한 이 장치는 배율 (Magnification), 작업 거리 (Working Distance) 및 전류 수준 (Level of Current) 과 같은 매개변수를 자동으로 조정하여 수동으로 조정하지 않아도 됩니다. 자동 조정 기능을 통해 사용자는 빠르고 신뢰할 수 있는 결과를 얻을 수 있습니다. S-520에는 새로운 폐쇄 회로 이미징 장치 (closed-circuit imaging unit) 가 포함되어 있어 샘플 손상 가능성을 줄입니다. 이 기계는 또한 다른 SEM 모델에 일반적으로 필요한 전기 보상 렌즈 (electrical compensation lenses) 를 사용할 필요가 없습니다. 방사선 수준이 낮은 고감도 분석을 허용합니다. 또한 HITACHI S-520 은 이미지 처리 속도와 생산성을 향상시키는 자동 단계 조작 툴을 갖추고 있습니다. S-520은 최적의 성능을 위해 설계된 강력한 스캐닝 전자 현미경입니다. 이 장치에는 다양한 기능과 기능이 있으며, 나노 (nanoscopic) 연구와 상세한 표면 분석에 이상적입니다. HITACHI S-520 은 고급 감지 에셋과 폐쇄 회로 이미징 (closed-circuit imaging) 모델을 통합하여 가능한 최단 시간 내에 정확한 결과를 산출합니다.