판매용 중고 HITACHI S-520 #293604268

HITACHI S-520은 다양한 샘플의 고해상도 이미징을 위해 설계된 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 고해상도 FEG (Field Emission Gun) 를 탑재하여 소음비 대 신호 (Signal to Noise Ratio) 를 제공하여 다양한 이미징 모드를 지원합니다. S-520은 금속, 플라스틱, 도자기, 반도체 및 생물학적 샘플을 포함한 많은 다른 물질을 관찰하는 데 사용될 수 있습니다. HITACHI S-520 은 특허 출원 중인 자동 초점 (auto-focus) 기능으로, 스캔 영역에 관계없이 전체 샘플에 걸쳐 균일한 이미지 해상도를 제공합니다. 따라서 포커스를 수동으로 조정할 필요가 없으므로, 빠르고 안정적인 이미지를 얻을 수 있습니다. 또한 자동 대비 최적화 (Auto Contrast Optimization) 기능이 제공되어 샘플 유형에 관계없이 최적의 화질을 제공합니다. S-520 (S-520) 에는 선택적 2 차 전자 검출기가 포함되어 있으며, 저대비 기능의 영상 및 결정 물질에서 결정 방향의 방향 분석을 가능하게한다. HITACHI S-520은 또한 밝은 장, 어두운 장, 역산포 전자 영상을 포함한 여러 전자 탐지 모드를 제공합니다. 또한, S-520은 화학적 이미징 및 조성 분석을위한 조절 가능한 분석 탐지기 및 액세서리를 갖추고 있습니다. HITACHI S-520 의 내구성 있는 설계를 통해 강력한 산업 환경을 견뎌낼 수 있으며, 소형화 (compact) 를 통해 기존 연구소에 손쉽게 통합할 수 있습니다. S-520 은 직관적인 작업 메뉴 (Operation Menu) 와 고급 분석 소프트웨어 (Analytical Software) 를 갖춘 터치스크린 인터페이스를 통해 사용자 친화적으로 설계되었습니다. 따라서 고품질 이미지와 분석 데이터를 빠르고 쉽게 얻을 수 있습니다. HITACHI S-520은 분석 이미징 및 재료 과학 응용 분야에 적합한 선택입니다. 고해상도 FEG (고해상도 FEG) 는 초미세 구조의 이미징을 가능하게 하며, 이미징 및 분석 도구 배열은 샘플을 특성화하는 강력한 기능을 제공합니다. 이러한 성능과 경제성을 결합한 S-520 은 학술/산업 연구 어플리케이션 모두에 적합한 선택입니다.