판매용 중고 HITACHI S-5000H #9163121

ID: 9163121
Scanning Electron Microscope (SEM) Resolution: 0.6 nm at 30 kV 3.5 nm at 1 kV Magnification: 30- 500x Low magnification speed: 30-500x High magnification speed: 250-800000x Electron gun: Cold field emission source Lens system: (3) Stage electromagnetic lenses Objective: (4) Openings Specimen exchange: Airlock type Stage electromagnetic types: Stigmator (X,Y) (2) Scanning coils Specimen stage: Side entry type Motion: X: ±3.5 mm Y: ±2 mm Tilt: ±40ºC Specimen size: Standard holder size: 9.5 mm x 5 mm x 2.4 mm Large specimen holder size: 20 mm x 6 mm x 2.4 mm Power supply: 0.5-30 kV in 100 V.
HITACHI S-5000H는 향상된 이미징 속도와 고해상도 이미징 기능을 결합한 최첨단 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 SEM은 다양한 이미징 모드 (고해상도 이미징, 고해상도 래스터 스캔 이미징, 고속 이미징) 를 제공하여 다양한 어플리케이션의 요구를 충족시킵니다. 또한 전자 열에 의해 수집되는 2 차 전자 신호 (SE) 를 이미지화하는 독특한 기능을 제공합니다. 첨단 분석 능력 덕택에, 재료, 장치, 생명과학 연구 등의 다양한 연구 응용프로그램에 적합하다. & # 160; & # 160; 이 고급 계측기 (High-End Instrument) 는 뛰어난 이미징 및 분석을 가능하게 하는 다양한 고급 기능과 기능을 제공합니다. 다양한 샘플 스테이지 이동 (최대 이동 범위가 170mm 인 최대 50mm/s), 오픈 플랫폼 멀티 뷰 광학 시스템, 5 축 고해상도 샘플 스테이지 및 자동 표본 교환 (ASEX) 컨트롤러가 포함됩니다. 또한 전계 방출 전자원 (field emission electron source) 을 사용하여 이미징에 가장 높은 밝기와 해상도를 제공합니다. HITACHI S 5000H는 DSWC (Dynamic Space Warp Correction) 라는 독점 이미지 수정 기술을 사용하여 전자 열을 구성하는 다양한 렌즈 요소로 인한 수차를 수정합니다. 따라서 사실상 왜곡되지 않은 고품질 이미지를 사용할 수 있습니다. 또한, ASEX 컨트롤러는 시스템이 한 번의 터치 (touch) 로 여러 표본 사이를 전환하도록 하여 정확도와 속도를 새로운 수준으로 끌어 올릴 수 있도록 설계되었습니다. 또한 반복 가능한 표본 정렬을 통해 고속 자동 표본 처리를 허용합니다. S-5000 H에는 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 을위한 통합 에너지 필터도 장착되어 있습니다. 이 기능을 통해 나노 (nano) 수준의 원소를 정량적으로 분석하여 재료 조성을 연구하여 결정 구조 및 화학 특성에 대한 귀중한 데이터를 제공합니다. 앞서 언급한 고급 기능 외에도 S 5000H 는 다양한 이미지 처리 소프트웨어 (Image Software) 를 갖추고 있어 사용자가 쉽게 시스템을 운영할 수 있습니다. 오퍼레이터 (Operator) 는 다양한 샘플에 대한 최적화된 이미징 및 분석을 위해 다양한 기능을 제어할 수 있습니다. 또한 이미지 스캐닝 또는 분석 측정, 자동 서피스 이미징, 자동 두께 측정 (automated thickness measurement) 등의 다양한 분석 옵션을 제공합니다. 전반적으로 S-5000H는 정교한 스캐닝 전자 현미경에 필요한 뛰어난 성능, 다용성, 활용성을 제공합니다. HITACHI S-5000 H는 영상 개선, 자동화 기능 덕분에 소재, 기기 연구, 생명과학 연구에 이르기까지 다양한 응용에 적합합니다.
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