판매용 중고 HITACHI S-5000 #9241544

HITACHI S-5000은 평평하고 불규칙한 표면에서 빔에 민감한 나노 컴포지트 (nanocomposite) 에 이르기까지 다양한 샘플 유형을 검사하는 데 사용되는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 효율적인 장치는 최대 측면 해상도 (탐지성 한계) 가 0.8-1.0 "m 인 고해상도 이미지를 캡처하여 광범위한 샘플 분석을 가능하게합니다. 또한, 업계 최고의 Z 평면 해상도 0.88nm의 고정밀 3D 표면 측정으로 유명합니다. 이는 미세한 기하학적 및 형태 학적 특징에 대한 자세한 분석에 적합합니다. HITACHI S 5000의 넓은 시야는 표본을 쉽게 관찰합니다. 이 장치는 큰 영역 이미지를 위해 3 개의 신호를 동시에 등록해야합니다. 이는 2 차 전자 검출기 렌즈, 백 스캐터 전자 검출기 렌즈 및 3 중 전자 렌즈 장치에서 수집됩니다. 이 시스템을 사용하여 S-5000은 스캐닝 전송 전자 현미경, 2 차 전자 이미징, 백스캐터링 전자 이미징, 저전압 이미징, 고해상도 이미징 등 다양한 이미징 모드에서 이미지를 캡처 할 수 있습니다. S 5000은 SEM 이미징 기능 외에도 AHSS (Smart Auto Holder Unit) 및 AMCS (Auto Measurement Control Machine) 를 포함한 여러 고급 구성 요소를 자랑합니다. AHSS는 샘플 준비 시간을 줄여 빠르고 정확한 샘플 정렬 (sample alignment) 을 가능하게 하는 반면, AMCS는 사용자가 표본 정렬을 지원하므로 샘플 관찰 및 분석이 더 효율적입니다. 또한, 이 장치에는 손쉽게 작동하고 화질을 얻을 수 있는 직관적인 (직관적인) 기능이 장착되어 있습니다. 이러한 기능을 통해 사용자는 자동 노출 제어 (Automatic Exposure Control), 거친/세밀한 조정, 이미지 초점 조정, 사용할 수 있는 수의 매개변수를 사용할 수 있습니다. HITACHI S-5000 (HITACHI S-5000) 은 반도체 산업의 결함 및 샘플 분석에서 생물학적 샘플 분석 및 연구에 이르기까지 다양한 응용 분야에 적합한 장치입니다. HITACHI S 5000 은 뛰어난 해상도, 유연한 기능, 사용자 친화적 제어 기능, 뛰어난 이미징 기능 덕분에, 샘플에 숨겨진 최고의 세부 사항을 파악하려는 전문가에게 이상적인 툴입니다.