판매용 중고 HITACHI S-5000 #9210311

HITACHI S-5000 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 다양한 샘플 유형의 표면 특징 및 지하 얼굴 구조를 시각화하는 데 사용되는 고해상도 이미징 도구입니다. 첨단 기능을 갖춘 HITACHI S 5000 현미경은 다양한 이미징 기능을 제공하여 업계, 연구, 제조 분야에 유용한 툴입니다. S-5000의 전자원은 장 방출 총 (field emission gun) 에 의해 생성되며, 운동 에너지가 0.5-30kV, 스팟 크기가 최대 0.4 nm 인 집중된 전자를 생성 할 수 있습니다. 콘덴서 렌즈 (Condenser Lens) 는 광학 제어를 가능하게 하는 조리개 (aperture) 어셈블리로 설계되었으며, 최대 300,000배의 실시간 해상도를 제공할 수 있는 다양한 확대 수준을 제공합니다. 시야는 최소 15mm 거리 인 4mm에서 320mm까지 조정 할 수 있습니다. 현미경에는 2 차 전자 (SE), 백스캐터 전자 (BSE), 카토 돌루미네 센스 (CL) 및 고해상도 이미징을위한 렌즈 검출기를 포함한 광범위한 감지 및 이미징 모드 기능이 있습니다. S 5000에는 최대 256 레벨의 회색 스케일을 제공하는 4 개의 개별 탐지기 채널의 동시 영상을 허용하는 독특한 전자 탐지 시스템 (Electron Detection System) 이 있습니다. 자동 스테이지 드라이브 시스템은 X 및 Y 축에서 80mm의 부드럽고 효율적인 스캔 범위를 제공합니다. 또한 HITACHI S-5000 MICrO-SCAN (MOS) 시스템은 씬 샘플의 빠른 단면 SEM 이미징을 위해 설계되었습니다. 이 기능을 사용하면 가속 전압을 자동으로 조정하여 1nm/pixel 해상도의 수평 이미지를 만들 수 있습니다. 현미경은 또한 Oxford Instruments EDX 검출기와 함께 X-ray 마이크로 분석 기능을 제공하여 샘플에서 정량적 원소 분석을 제공합니다. HITACHI S 5000 에는 화면 제어 (On-Screen Control) 와 조이스틱 제어 (Joystick Control) 가 모두 포함된 직관적인 사용자 인터페이스와 같이 분석 기능이 향상되는 기능도 제공됩니다. USB 연결을 통해 PC에 쉽게 연결할 수 있으며, 이는 자동 분석에도 적합합니다. 또한 S-5000 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 은 자동화된 이미지 및 데이터 처리를 촉진하는 다양한 소프트웨어 패키지와 함께, 확장 작동을 위한 임피던스 제어를 제공합니다. 전반적으로 S 5000 Scanning Electron Microscope 는 다양한 애플리케이션에서 활용할 수 있는 포괄적인 고해상도 이미징 툴입니다. 독보적인 기능과 확장성이 뛰어난 이미징 기능으로, 현미경은 사용자가 연구, 산업, 제조 요구 사항에 대해 포괄적이고 효율적인 이미징 환경을 제공합니다.