판매용 중고 HITACHI S-5000 #9114731

ID: 9114731
빈티지: 1999
Field emission scanning electron microscope (FE-SEM) High magnification: 500x to 1,000,000x Low magnification: 30x to 2,000x Electron gun 3-Stage electromagnetic lens Electromagnetic astigmatism correction coil CRT Monitor Automatic valve system (3) Vacuum ion pumps Compressor 1999 vintage.
HITACHI S-5000은 HITACHI High-Technologies Corporation에서 제조 한 고성능 현장 방출 스캐닝 전자 현미경 (FE SEM) 입니다. 미세한 표본의 양적, 고해상도 이미지를 뛰어난 정확도, 선명도, 대비를 제공하도록 설계되었습니다. 이것은 고급 렌즈 기술, 강력한 전자원, 고급 이미지 프로세서를 통해 달성됩니다. HITACHI S 5000의 주요 구성 요소는 현장 방출 총 (FEG) 입니다. 이 전자원은 매우 정밀한 이온 총과 전자 빔으로 구동됩니다. 이 전자 소스의 조합은 이미징을위한 고해상도, 균일 한 빔을 생성합니다. 또한, 고유 한 2 단계 초점 구조를 사용하여 더 높은 해상도의 이미지를 얻기 위해 빔을 정확하게 조작 할 수 있습니다. 현미경에는 강력한 에너지 필터 시스템 (energy filter system) 이 포함되어 있어 표본의 정확하고 정확한 빌딩 블록 측정이 가능합니다. 이것은 고정밀 X 선 마이크로 분석 및 디지털 다중 에너지 X 선 단층 촬영 (digital multi-energy X-ray tomography) 과 같은 광범위한 스캔 모드를 제공하는 고급 빔 제어 시스템과 함께 제공됩니다. 현미경은 goniometer와 디지털 카메라를 포함하는 고성능 전기 광학 장비로 작동합니다. 이를 통해 전자 빔 (electron beam) 아래의 샘플을 정확하게 배치할 수 있으며, 고해상도로 샘플의 이미지를 캡처할 수 있습니다. S-5000에는 CCD 검출기, SED (secondary electron detector), AED (auger electron detector) 및 BED (backscattered electron detector) 를 포함한 여러 고급 검출기 시스템이 장착되어 있습니다. 이것들은 빠르고 정확한 전자 영상을 가능하게하며, 광범위한 측정 매개변수를 제공합니다. 전반적으로, S 5000은 미세 구조와 원소 분석의 안정적이고 고해상도 이미징을 제공하는 최첨단 연구 도구입니다. 다양한 고급 구성요소 (advanced component) 와 기능을 결합하여 연구원들에게 상세한 이미지와 포괄적인 데이터를 제공합니다.
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