판매용 중고 HITACHI S-5000 #293748019

HITACHI S-5000은 FE-SEM (Field Emission Scanning Electron Microscope) 으로 매우 작은 물체 또는 기능을 이미징하기 위해 최상위 성능이 필요한 어플리케이션을 위해 설계되었습니다. 최대 300 mm 직경의 표본을위한 대형 챔버 (chamber) 가 있으며, 높은 정보 전송 속도, 향상된 분석 기능, 밝고 어두운 필드 모드에서 스캔 기능 등을 갖추고 있습니다. HITACHI S 5000 은 10 나노미터 해상도를 갖추고 있어, 정확하고 세부적인 기능이 필요한 애플리케이션에 적합합니다. 고압 이미징 회로는 최대 30kV까지 실행되어 샘플에 깊이 침투하여 몇 나노 미터 (nanometer) 에 불과한 매우 얇은 층의 이미징을 가능하게합니다. S-5000에는 매우 민감한 5 축 스테이지도 장착되어 있습니다. 이 단계는 최대 0.07 äm까지 정확하며 임의의 방향, 임의의 각도로 스캔 할 수 있습니다. 두 가지 모드: 우수한 해상도를위한 쇼트 필드 (SF) 스캔, 더 넓은 시야 이미징을위한 롱 필드 (LF) 스캔. 이미지 처리를 용이하게 하기 위해 S 5000 은 자동 기울기 보정 (automatic tilt correction) 을 포함한 자동 측정 기능도 제공합니다. 즉, 수동 제어가 필요 없는 각도 오류 (최대 3 °) 를 수정하도록 설정하여 정확한 이미지 등록을 보장합니다. SEM을 사용하여 여러 재료의 데이터를 수집 할 수 있습니다. 바늘, 캔틸레버 (cantilever), 기타 스타일러스 타입 프로브 (stylus-type probe) 와 같은 표준 전기 및 기계 프로브와 작동하며 임피던스 (impedance) 및 발광 (luminescence) 과 같은 다양한 전기 및 광학 특성을 측정하는 데 사용될 수 있습니다. 이 시스템은 또한 광학 이미지 검출기 (Optical Image Detector) 와 같은 다양한 추가 기능을 가지고 있습니다. (TEM) 이미징, 장기 수명의 현장 방출 전자 소스 (무중단 운영), 복잡한 이미지 처리 및 HITACHI S-5000 기능에 대한 직접 액세스 제어를 위한 원격 사이트 액세스 기능을 제공하는 컴퓨터 시스템. 전반적으로 HITACHI S 5000 은 고해상도, 저소음, 신속한 데이터 수집을 통해 정확한 이미징을 필요로 하는 조사관에게 탁월한 선택입니다. 고급 기능과 기능을 통해 재료 과학, 마이크로 일렉트로닉스 (microelectronics), 나노 기술 연구 (nanotechnology research) 등 다양한 응용 프로그램에 적합합니다.