판매용 중고 HITACHI S-5000 #293652755

HITACHI S-5000
ID: 293652755
웨이퍼 크기: 4"
Scanning Electron Microscope (SEM), 4".
HITACHI S-5000 (HITACHI S-5000) 은 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 으로, 연구원들에게 빠르고 효율적인 방식으로 샘플의 자세한 이미지를 캡처 할 수있는 능력을 제공합니다. 이 장치는 사용자에게 다양한 유형의 기능과 기능을 제공합니다. 이 장치에는 0.1 ~ 30kV 사이의 작동 전압 범위와 0.01 ~ 0.53 nonAmps의 작동 전류 범위를 갖는 전자 빔을 제공하는 텅스텐 필라멘트 (tungsten filament) 에미터가 장착되어 있습니다. 디지털 제어 장치 (Digital Control Equipment) 를 사용하여 실험 설정 및 운영에서 뛰어난 유연성과 정확성을 제공합니다. 하부 나노 미터 정밀도 (sub-nanometer precision stage) 를 사용하여 SEM의 자동 빔 중심 및 초점이 향상됩니다. 또한, 이미지 명암과 해상도는 EDS (에너지 분산 분광법) 및 EBSD (전자 역 산포 회절) 검출기로 향상됩니다. SEM이 지원하는 시야의 크기는 3kw X-ray 소스와 4-blade 조리개로 최대 100mm2입니다. (PHP 3 = 3.0.6, PHP 4) 이 장치로 캡처된 이미지의 최대 배율은 최대 100,000x (해상도 35nm) 입니다. 이 장치에는 온도를 섭씨 -45 도까지 낮출 수있는 냉각 장치 (cooling mechanism) 가 장착되어 필요할 때 저온 작동을 용이하게합니다. SEM 의 사용자 친화적 인터페이스는 샘플을 효과적으로 제어하고 관찰합니다. 여기에는 전동식 스테이지, 다국어 터치 스크린 LCD 패널, 빠른 스캔 동작을위한 직접 드라이브 모터 테이블, 실시간 이미지를위한 FPD 디지털 카메라가 포함됩니다. 또한 이 패널을 사용하면 데이터 입력/출력에 대한 다양한 플러그인 및 제어 설정에 액세스할 수 있습니다. HITACHI S 5000 SEM의 핵심에는 분석되는 샘플 재료의 질량 스펙트럼을 제공하는 SIMS (secondary ion mass spectrometry) 시스템이 있습니다. 이 단위는 원소 컴포지션을 구하고 서피스 피쳐를 식별하는 데 매우 유용합니다. S-5000 의 듀얼 디지털 이미지 처리 시스템 (Dual Digital Image Processing Systems) 은 샘플의 양적 (Quantitative) 속성과 질적 (Qualitative) 특성을 모두 분석 및 파악하기 위한 실시간 이미지를 제공합니다. 마지막으로, S 5000 은 샘플 (sample) 또는 샘플 (sample) 홀더를 이동할 때 전자 빔의 자동 차단 (automatic-off) 과 같은 필수 안전 기능도 지원합니다. 전반적으로, HITACHI S-5000 은 다양한 기능을 제공하여 연구원들이 보다 빠르고 정확도가 높은 샘플의 고해상도 이미지를 캡처할 수 있도록 지원합니다. 듀얼 디지털 이미징 머신, 에너지 분산 분광학 (energy-dispersive spectroscopy) 및 전자 백스캐터 회절 (backscatter diffraction) 및 안전 기능은 모두 연구원들이 SEM을 통해 최적의 결과를 얻도록 하는 데 도움이됩니다.
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