판매용 중고 HITACHI S-4800 #9353803

HITACHI S-4800
ID: 9353803
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
HITACHI S-4800 은 SEM (State-of-the-Art Scanning Electron Microscope) 으로, 다양한 기능과 기술을 장착하여 다양한 이미지 품질 및 해상도 요구 사항을 충족합니다. HITACHI S 4800은 30 배에서 300,000x까지의 배율을 제공하는 고해상도 2 차 전자 검출기를 갖춘 현장 방출 유형 SEM 기계입니다. 이러 한 종류 의 주사 전자 현미경 은 훌륭 한 분해능 과 매우 깊은 장 을 제공 한다. 이 모델에는 새롭게 개발된 진공 챔버 (vacuum chamber) 가 장착되어 가변 압력 및 온도 설정에서 안정된 고해상도 이미징이 가능합니다. 이 장치는 다양한 어플리케이션의 이미징 (Imaging) 요구 사항을 충족하는 다양한 기능을 제공합니다. 이미지 품질, 정밀 이미지 해상도를 향상시키는 고급 신호 처리 (Advanced signal processing) 를 제공하여 뛰어난 신호 대 잡음 비율, 정밀한 자동 초점 빔 피드백 추적 시스템 등을 제공합니다. S-4800은 또한 향상된 신호 대 노이즈 비율, 정확한 위치 스테이지 제어 시스템 및 저소음 프리앰프를 제공합니다. 위치 스테이지 제어 시스템 (Position Stage Control System) 은 정확한 이동 제어를 제공하여 정확한 샘플 위치를 보장합니다. 저소음 프리앰프를 통해 S 4800은 기존의 프리앰프 (preamplifier) 보다 훨씬 낮은 소음 수준을 달성 할 수 있습니다. 이 스캐닝 전자 현미경은 다양한 액세서리와 호환되게 만들어집니다. 완전 자동화 작업을 위해 X 및 Y 스테이지 드라이브를 자동화할 수 있는 스테이지 드라이브 장치 (옵션) 를 포함합니다. 고감도 보조 전자 검출기 (옵션) 를 사용하여 재료의 고화질 영상을 용이하게 합니다. 다중 이미지 획득 중 자동 초점 제어를 제공하는 자동 초점 장치 (옵션). HITACHI S-4800 (HITACHI S-4800) 은 과학자와 연구원의 까다로운 요구 사항을 충족할 수 있도록 설계된 신뢰할 수 있는 고성능 SEM입니다. 뛰어난 화질, 뛰어난 해상도, 정확한 스테이지 컨트롤 (stage control) 및 기타 여러 기능을 제공하여 다양한 샘플에서 고화질 이미징이 필요한 연구자와 과학자에게 이상적인 선택입니다.
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