판매용 중고 HITACHI S-4800 #9293885
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ID: 9293885
웨이퍼 크기: 12"
빈티지: 2004
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), 12"
2004 vintage.
HITACHI S-4800은 연구 및 산업 환경에서 고배율 표면 이미징을 위해 설계된 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 다양한 해상도 요구 사항을 충족하는 고품질 이미지를 제공하기 위해 제작된 고급형 단일 열 (single-column) 장비입니다. HITACHI S 4800은 단색 전자 빔을 사용하여 고해상도 지형 이미지 및 3D 표면 복제본을 생성합니다. 시스템에 내장된 디지털 이미징 프로세서 (Digital Imaging Processor) 는 정확한 결과를 보장하기 위해 이미지를 광학 센서로 캡처, 표시, 저장합니다. 최대 배율은 1.0 나노 미터이며 비교할 수없는 해상도를 제공합니다. S-4800에는 가속 전압 5kV와 빔 전류 범위 0.3 ~ 8nA가 장착되어 있습니다. 이를 통해 최대 40cm 직경과 최대 8mm 깊이의 샘플을 분석 할 수 있습니다. 이 장치는 홀더에 부착할 수도 있으며, 실온에서 섭씨 100도 (섭씨) 까지 수동으로 조정할 수도 있습니다. S 4800은 또한 광범위한 이미징 모드 및 분석 기술을 지원합니다. 통합 에너지 분산 X- 선 분광계는 가변 가속 전압에서 스파크리스 작동을 특징으로합니다. 다양한 분광 기술이 활성화되어 재료 구성을 식별 할 수 있습니다. 가변 압력 모드, 기울기 모드 등의 고급 이미징 모드에서는 비 조리개 이미징이 가능합니다. HITACHI S-4800 은 이미징 기능 외에도 이온 빔 스캐닝 전자 현미경 (focused ion beam scanning electron microscopy) 과 같은 분석 기능도 갖추고 있어 샘플을 준비하고 분석하는 데 사용할 수 있습니다. 이 기계에는 프로세스를 지원하는 이온 소스 및 RF 도구가 포함되어 있습니다. HITACHI S 4800 은 포커스 (focus), 소음 보정 (noise correction) 등 다양한 자동 기능을 갖춘 견고한 구성으로, 사용자 입력이 최소화되면서 반복 가능한 결과를 얻을 수 있습니다. 또한, 이 자산을 원격 운영 (Remote Operation) 및 전체 자동화 (Full Automation) 를 포함한 다양한 구성으로 운영하여 실험실 및 생산 시설의 다양한 요구를 충족하도록 설정할 수 있습니다. 요약하자면, S-4800 은 다양한 표면 이미징 및 분석 요구에 최적화된 고사양 SEM 모델입니다. 광범위한 확장성, 고급 이미징 기능을 갖춘 S 4800 은 가장 까다로운 애플리케이션에 이상적인 툴입니다.
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