판매용 중고 HITACHI S-4800 #9271037
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판매
ID: 9271037
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
With EDS
Magnification: 30x, 800,000x
Maximum sample size: 150 mm
Accelerating voltage:
1.0 nm (15 kV)
2.0 nm (1 kV)
Electron gun:
Cold-cathode field emissions electron source
Accelerating voltage: 0.5-30 kV (Variable steps 0.1 kV)
Sample change: Air lock
Detectors:
Upper secondary electron detector
Lower secondary electron detector
EDS Detector
Dry vacuum system
With Turbo Molecular Pump (TMP)
3-Axes motorized stage
With GUI
Operating system: Windows XP.
HITACHI S-4800 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 생물학적 샘플, 나노 구조 및 기타 표본을 이미징 및 분석하는 데 사용되는 고해상도 분석 도구입니다. 이 도구는 3 nm의 고해상도를 제공하여 운영자가 작은 세포, 단백질 및 기타 구조를 명확하게 시각화 할 수 있습니다. 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 검출기와 고감도 백검출기 장비를 통해 HITACHI S 4800 SEM은 샘플 레이어에 더 깊이 침투하여 이미지화하고 매우 작은 구조를 분석 할 수 있습니다. 시스템에는 필드 배출 총이 장착되어 있습니다. 이 총은 더 높은 전류 강도로 더 큰 전자 방출 (electron emission) 을 제공하여 더 높은 이미지 품질, 더 나은 해상도, 명암비, 더 빠른 이미징 속도를 낼 수 있습니다. 총 단위에 의해 생성 된 고강도 전자 빔은 0.5 ~ 20.0m에 이르는 스팟 크기로 조정 할 수 있습니다. S-4800 SEM에는 생물학적, 산업적 샘플과 같은 표준 챔버 (standard chamber) 보다 큰 샘플을 수용 할 수있는 대형 챔버가 있습니다. 이 기계는 검출기를 선택하여 자기 (magnetic) 및 비 (non-magnetic) 물질을 검사하는 데 사용될 수 있습니다. 직관적 인 대화식 사용자 인터페이스 (Interactive User Interface) 로 기기를 제어하여 장비를 쉽게 작동시킵니다. 이 사용자 친화적 인터페이스는 단일 샘플에서 여러 방향에서 효율적인 이미지 수집을 가능하게 합니다. 이 도구에는 두께 (thickness) 및 서피스 거칠기 (surface roughness) 측정과 같은 미세한 점을 빠르게 찾는 자동 기능도 제공됩니다. 3 차원 이미징의 경우 S 4800에는 빠른 속도 스캔을 허용하고 원치 않는 배경 노이즈를 필터링할 수 있는 Conoidal Scanning Mode가 있습니다. 이 소프트웨어에는 파노라마 이미지를 빠르게 만드는 자동 정렬 및 스티칭 기능도 포함되어 있습니다. HITACHI S-4800 에는 Auto Focus 및 Autocontrast 기능이 포함되어 있어 보다 사용자 효율적이고 효율적입니다. 포함된 HDTV (High Definition Television) 비디오 포트는 이미지를 고해상도로 볼 수 있도록 합니다. HITACHI S 4800 은 또한 고속 이더넷 (Fast Ethernet) 에 대한 인터페이스와 화상 출력 (Optional Video Output) 기능을 제공하여 실무자에게 데이터를 다른 컴퓨터로 전송하는 기능을 제공하여 엄청난 시간을 절약할 수 있습니다. 전반적으로, S-4800 SEM은 생물학적, 산업 및 나노 구조 샘플에서 가장 훌륭한 세부 사항조차도 연구하기위한 강력한 기능을 갖춘 고도의 스캐닝 전자 현미경입니다. 고해상도 및 EDS 검출기는 화질 및 분석 선명도를 제공하며, 다용도 챔버, 사용자 인터페이스 및 EDX 컨트롤은 샘플을 보다 쉽고, 빠르고, 정확하게 작동 및 분석합니다.
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