판매용 중고 HITACHI S-4800 #9257859

HITACHI S-4800
ID: 9257859
Scanning Electron Microscope (SEM) Chamber: Type II No EDS Includes: Acoustic shield EMI Canceler Chamber scope.
HITACHI S-4800 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 혁신적인 이미징 장비로, 다양한 샘플을 분석하고 특성화하는 데 필요한 세부 수준을 제공합니다. 이름에서 알 수 있듯이, HITACHI S 4800은 전자 빔을 사용하여 매우 높은 배율로 샘플의 표면을 이미지화합니다. 또한, S-4800 (S-4800) 은 다양한 각도 및 확대 (magnification) 에서 디지털 이미지를 수집하고 표본의 원소 구성 및 지형에 대한 정보를 제공 할 수있는 다양한 검출기를 갖추고 있습니다. S 4800 SEM 은 다양한 기능으로, 다양한 이미징 작업에 가장 적합합니다. X 선 방출을 사용하여 원소 구성 분석을 허용하는 EDX 검출기가 장착되어 있습니다. 또한, 2 차 전자 검출기는 비전도 표본을 손상시키지 않고 상상 할 수 있습니다. 또한, HITACHI S-4800의 조명기를 연구 중인 표본의 특정 영역을 선택하도록 조정하여 표본 특성을 더 쉽게 만들 수 있습니다. HITACHI S 4800은 탁월한 이미징 기능 외에도 사용자 친화적입니다. 사용자 친화적 인 소프트웨어를 통해 여러 이미지를 동시에 수집할 수 있으며, 표본 특성에 대한 자세한 정보를 표시하고, 이미지 품질을 높일 수 있는 팁을 제공합니다 (영문). 또한, S-4800은 한 번에 최대 5 개의 표본을 수용 할 수 있으며, 여러 샘플의 신속한 이미징을 허용합니다. 이 스테이지는 또한 이미지 디테일과 정확도를 향상시킬 수있는 자동 초점 시스템 (autofocus system) 으로 설계되었습니다. 결론적으로, S 4800 SEM은 연구 중인 샘플에 대한 포괄적 인 분석을 제공하는 고급 이미징 장치 (advanced imaging unit) 입니다. 조정식 조명기 (Adjustable Illuminator) 와 자동 초점 기계 (Autofocus Machine) 를 포함하여 사용자 친화적으로 사용할 수있는 여러 기능이 포함되어 있으며, 사용 가능한 최고 수준의 표면 세부 사항도 제공합니다. HITACHI S-4800 의 기능으로, 재료 구조와 구성의 질의에 대한 확실한 답변을 제공할 수 있습니다.
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